- Pickering Interfaces est l’un des principaux spécialistes des solutions de commutation au format modulaire. Cependant, son offre ne se limite pas aux multiplexeurs et autres matrices de commutation.
- La société s’est, au fil des ans, constituée une offre étoffée de cartes PXI de simulation de capteurs qui représente aujourd’hui près du tiers de ses ventes.
- L’entreprise britannique, qui propose pas moins de 300 références de cartes simulant une grande variété de capteurs, vient tout juste d’étendre cette panoplie en lançant la carte PXI 41-670 pour la simulation de capteurs LVDT et RVDT et de résolveurs ainsi que le module PXI 41-765 pour la simulation des boucles de courant 4-20 mA.
Avions, drones, engins spatiaux, automobiles, trains et navires, comme la plupart des équipements industriels automatisés, ne peuvent se passer de capteurs qu’ils embarquent en grand nombre pour pouvoir opérer. Une grande diversité de capteurs est disponible sur le marché pour mesurer la température, la pression, les contraintes, la position, le déplacement, les vibrations, etc. Chaque type de capteur existe en des centaines de variantes répondant à des exigences de mesure et des environnements très spécifiques.
Les cartes PXI de simulation proposées par Pickering Interfaces sont conçues pour remplacer un grand nombre de ces capteurs dans un système de simulation Hardware-In-The-Loop (HIL). Les applications de test HIL sont des opérations complexes à mettre en œuvre. Elles visent à valider le fonctionnement et la sûreté des logiciels qui pilotent les unités de traitement électronique embarquées. Il s’agit généralement d’applications très critiques pour la sécurité dans des secteurs tels que l’aéronautique, l’automobile ou encore le ferroviaire. Chaque fois qu’un nouveau logiciel est exploité ou mis à jour, il doit être revalidé, en simulant complètement son environnement d’utilisation final y compris les capteurs. Dans l’aéronautique par exemple, un contrôleur FADEC de turboréacteur exploite les données issues de centaines de capteurs de température, de pression, de rotation, etc. Tous ces éléments doivent être simulés au sein d’un système HIL.
Pickering a développé pour ce faire une large gamme de solutions de simulation du fonctionnement de capteurs couramment employés dans le domaine aéronautique, automobile et industriel. Son offre comprend une variété de cartes pour la simulation de résistances, de RDT (Resistance Temperature Detector), de jauges de contrainte, de thermocouples, de capteurs LVDT/RVDT/Résolveur, de boucle de courant, de signaux analogiques…
« Nous proposons plus de 300 cartes de simulation de capteurs et autres signaux analogiques. Chaque famille se décline en plusieurs modèles selon l’étendue de mesure, la précision ou encore le nombre de canaux nécessaires à l’application. Si aucune de nos références ne convient à l’application d’un client, nous pouvons développer une solution qui répondra à ses exactes exigences. Nous sommes une entreprise extrêmemenet intégrée. Nous maîtrisons en interne l’ensemble de la chaîne de fabrication, depuis la conception jusqu’à la production des cartes électroniques et de leur câblage. De ce fait, nous pouvons assurer le support de nos produits sur une période allant jusqu’à 15 à 20 ans», explique Keith Moore, PDG de Pickering.
La simulation des capteurs en lieu et place de l’emploi de véritables capteurs permet à la fois de réduire les coûts et de gagner du temps puisqu’il n’est pas nécessaire d’acquérir ces capteurs, ni de les installer et de les câbler sur un banc d’essais. De plus, les cartes de simulation configurables peuvent être réutilisées pour d’autres applications. « Ainsi, en recourant à la simulation de capteurs, les systèmes de test logiciel gagnent en précision, en rapidité et en répétabilité. Ils présentent une moindre complexité tant au niveau du câblage que de l’utilisation de composants discrets. Le tout est en outre confiné dans un même rack de test », argumente Keith Moore.
Pickering dispose également, outre sa gamme de modules de commutation PXI, des cartes d’insertion de défauts (circuit ouvert ou court-circuit) permettant d’étendre les capacités de simulation d’un système de test automatique.
