National Instruments et Hewlett Packard Enterprise (HPE) annoncent leur collaboration pour faciliter l’accès à des solutions Big Analog Data reposant sur le logiciel NI DataFinder Server Edition et les systèmes HPE Moonshot. Elles vont proposer une solution pré-testée pour analyser des données chronologiques fournies par les capteurs.
Les informations issues de capteurs sont différentes de celles collectées et gérées jusqu’ici par les centres de traitement données en gros volume (Big Data). La collaboration entre Hewlett Packard Enterprise (HPE), fournisseur de solutions informatiques et de traitement de données, et National Instruments (NI), spécialisé en acquisition et en analyse de données, devrait aboutir à la mise à disposition d’une solution logicielle et matérielle pré-testée, destinée à résoudre les problèmes de gestion de données et à faciliter la prise de décisions à partir de données fournis pas les capteurs.
La solution Big Analog Data DataFinder-Moonshot vise à permettre aux ingénieurs de déployer rapidement leurs systèmes et d’obtenir des informations stratégiques à partir de données de production, de test et de l’Internet des objets. « Avec cette solution pré-testée, HPE et NI aident leurs clients à réduire les risques liés à l’intégration. » explique Dr Tom Bradicich, Vice-président et directeur général du service Serveurs hyperscales et systèmes IoT chez HPE
L’association des systèmes HPE Moonshot et de DataFinder Server Edition fournit aux ingénieurs une solution pré-validée et testée dédiée à la gestion et à l’analyse des données fournies par des capteurs. En utilisant le logiciel DataFinder Server Edition sur les serveurs lames HPE Moonshoot, les utilisateurs peuvent gérer des données, structurées ou non, générées par n’importe quel nœud d’analyse ou d’acquisition.
Avec l’IoT et l’émergence de systèmes plus connectés, les volumes de données collectées sont considérables. « En offrant à nos clients la possibilité d’analyser leurs données de manière plus fiable et plus précise, les résultats de leur tests seront mieux documentés et cela leur permettra de prendre les mesures adéquates pour optimiser leurs applications. »
NI et HPE présenteront cette technologie lors de la conférence HPE Discover qui se tiendra à Las Vegas, du 7 au 9 juin, et à NIWeek, du 1er au 4 août à Austin (Texas).
