Analyseur de spectre optique AQ6375E de Yokogawa

Yokogawa lance les analyseurs de spectre optique des gammes AQ637xE

  • Les analyseurs de spectres optiques AQ6375E et AQ6376E de Yokogawa combinent le proche et moyen infrarouge afin de mesurer une large gamme de longueurs d’onde. Ces instruments visent à répondre aux nouveaux besoins de développement et de fabrication de produits optiques ainsi qu’à la caractérisation des lasers.

 
L’AQ6375E et l’AQ6376E de Yokogawa sont des analyseurs de spectres optiques basés sur un réseau de diffraction qui couvrent le SWIR (Short-Wavelength InfraRed) au-delà de 2 μm et le MWIR (Mid-Wavelength InfraRed) au-delà de 3 μm.

Ces analyseurs de spectres optiques sont proposés en quatre versions offrant des couvertures spectrales distinctes en fonction du type d’application visé.

L’AQ6375E Standard propose une gamme de longueurs d’onde allant de 1200 à 2400nm. La version AQ6375E Bande Étendue offre une plus large gamme de longueurs d’onde de 1000 à 2500nm et enfin la version AQ6375E Limitée a une gamme de longueurs d’onde de 1200-2400nm (avec une résolution optique inférieure). L’AQ6376E Standard offre lui une couverture spectrale allant de 1500 à 3400nm.

Dans le domaine de la mesure environnementale et la détection de gaz, l’AQ637xE peut être utilisé pour la mesure des spectres d’absorption de gaz et la caractérisation de sources lumineuses utilisées dans la spectroscopie d’absorption laser.

Ces analyseurs de spectres optiques peuvent être employés dans le cadre du développement et de la mesure des lasers, la caractérisation des sources de lumière de large bande telles que les sources Supercontinuum, ainsi que les dispositifs optiques passifs et les fibres optiques.

L’AQ637xE dispose d’une entrée optique en espace libre qui permet à la fois l’utilisation de fibres optiques monomodes et multimodes (jusqu’à 400 µm) sur le même analyseur pour les régions SWIR et MWIR. La faible variation de la perte d’insertion au niveau du connecteur d’entrée augmente la répétabilité des mesures, tandis que l’absence de contact physique avec les férules des connecteurs optiques des fibres connectées permet d’éviter leur endommagement.

Une source optique intégrée permet à la fois de réaliser automatiquement l’alignement optique et la calibration en longueur d’onde. Cela permet de maintenir des performances optiques en compensant les déviations de l’axe optique causées par les vibrations et la déviation de la longueur d’onde causée par les changements de température ambiante.

L’AQ637xE utilise également une fonction de purge d’air pour compenser une autre cause d’erreur possible. Dans les régions SWIR et MWIR, il existe des longueurs d’onde où la lumière présente de fortes absorptions dues à la présence de vapeur d’eau et de dioxyde de carbone, qui peuvent toutes deux perturber la mesure spectrale.
En injectant continuellement un gaz pur de purge, tel que l’azote, dans le monochromateur (via des connecteurs dédiés sur le panneau arrière), l’AQ637xE peut réduire l’influence des absorptions de lumière sur la mesure.

La lumière diffractée d’ordre élevé est également compensée par un filtre de coupure intégré dans toutes les versions, à l’exception du modèle limité AQ6375E-01. Cela est nécessaire car le monochromateur génère une lumière diffractée d’ordre élevé, dont les longueurs d’onde sont égales aux multiples entiers de la longueur d’onde d’entrée. Les filtres intégrés réduisent cette lumière diffractée d’ordre supérieur, minimisant ainsi son influence sur la précision de la mesure.

Pour analyser les résultats, l’AQ637xE dispose de fonctions d’analyse intégrées pour caractériser les spectres optiques d’une grande variété de systèmes et de dispositifs optiques, tels que les systèmes WDM, DFB-LD, EDFA et les filtres optiques.

Les fonctions d’analyse comprennent : DFB-LD ; FP-LD ; LED ; mesure de la largeur spectrale (peak/notch) ; SMSR ; puissance optique ; WDM (OSNR) ; EDFA (Gain et NF) ; filtre (peak/bottom) et filtre WDM (peak/bottom).

Pour améliorer l’efficacité et la productivité des mesures, l’AQ637xE dispose d’un mode application (APP), qui transforme l’analyseur de spectre optique en un instrument polyvalent dédiée au dispositif sous test (DUT).

Le mode APP fournit une interface utilisateur spécifique pour le DUT qui permet à l’utilisateur de passer des paramètres de configuration aux résultats de test sans avoir besoin de connaître la grande variété des réglages de paramètres de l’analyseur. L’AQ637xE est préinstallé avec plusieurs applications de base telles que le test WDM, le test DFB-LD et le test FP-LD. Un assistant guide l’utilisateur à travers un processus de configuration pour des mesures et des analyses spécifiques.

Des applications supplémentaires de test seront disponibles en téléchargement sur le site Internet de Yokogawa et pourront être ajoutées à l’AQ637xE par de futures mises à jour du logiciel.

Les analyseurs de spectre optique de la série AQ637xE sont dotés d’un écran tactile LCD (capacitif multi-touch) haute résolution de 10,4 pouces. Les utilisateurs peuvent modifier les paramètres de mesure, effectuer des analyses et changer la vue du spectre optique comme sur une tablette tactile.

L’ergonomie est encore améliorée par l’ajout de touches fréquemment utilisées aux touches matérielles du panneau en face avant. Il s’agit notamment de touches pour le contrôle du balayage (Auto/Single/Repeat/Stop), le réglage de la résolution optique et le réglage de la sensibilité.

L’AQ637xE dispose également de ports USB compatibles avec les périphériques de stockage USB, souris et claviers. Les données et les captures d’écran peuvent être enregistrées dans la mémoire interne ou sur une clé USB pour créer des rapports de test, tandis que la connexion d’une souris ou d’un clavier au port USB permet d’utiliser l’AQ637xE de la même manière qu’un PC.

Le port réseau (LAN) standard permet d’accéder aux fichiers stockés dans la mémoire interne et de mettre à jour le logiciel à distance depuis un PC. La fonction APP prend également en charge une sonde d’inspection de fibres optiques, permettant aux utilisateurs de visualiser la qualité de l’état de surface du connecteur optique.