- Rohde & Schwarz a amélioré les performances de son système de test de la qualité des radômes automobiles de sa gamme R&S QAR conçue pour le test d’intégration des radars au sein des radômes et des pare-chocs.
- Le système R&S QAR combine maintenant ses capacités d’imagerie haute résolution pour l’analyse d’homogénéité (logiciel R&S QAR-K10) avec des outils de mesure de réflexion.
- Les valeurs mesurées avec l’option logicielle R&S QAR-K50 sont directement comparables aux résultats fournis par les analyseurs de réseau vectoriel en configuration quasi-optique (QO).
Le système d’imagerie R&S QAR opère dans le domaine des ondes millimétriques sur la bande de 76 GHz à 81 GHz. Il permet de réaliser les essais de validation des matériaux de radôme et de pare-chocs. Il peut être employé à toutes les phases de développement, de validation et de production et lors du processus d’’intégration de radars aux radômes.
Une haute résolution spatiale est atteinte au prix d’une plus grande dispersion en termes d’angles d’incidence. Un capteur radar typique dispose en effet d’un champ de vision de +/-10° par exemple pour les radars longue portée et de +/-60° pour les radars courte portée. S’appuyant sur les techniques de caractérisation des matériaux, les paramètres de réflexion des radômes, mesurés à l’aide d’un analyseur de réseau vectoriel, sont principalement déterminés pour des angles incidents perpendiculaires. L’option logicielle R&S QAR-K50 prend en compte cette problématique.
La comparaison des résultats obtenus avec le système R&S QAR avec ceux mesurés avec un analyseur de réseau vectoriel (VNA) standard dans une configuration quasi-optique (QO) permet de constater et d’expliquer, selon Rohde & Schwarz, certains écarts de mesure grâce à la plus grande ouverture angulaire du système R&S QAR.
C’est sur ce point que l’option logicielle R&S QAR-K50 apporte une amélioration. Elle détecte automatiquement le point de réflexion maximal de l’échantillon de matériau et calcule la valeur moyenne sur la zone de test. Le résultat de la mesure, correspondant à la valeur moyenne de la zone de réflexion, est obtenu en moins de sept secondes. Cette valeur correspond aux résultats des mesures des coefficients de réflexion S11 et S22 obtenues avec un analyseur de réseau vectoriel.
Les mesures effectuées avec l’analyseur de réseau vectoriel en configuration QO au cours de la phase R&D peuvent désormais être directement comparées aux mesures fournies par le système R&S QAR. L’utilisation d’une technique d’imagerie par micro-ondes avec une ouverture d’antenne plus faible est davantage adaptée aux environnements de production qu’un analyseur de réseau vectoriel et réduit la sensibilité du dispositif de mesure aux erreurs de positionnement. Le logiciel R&S QAR-K50 détecte automatiquement la zone de mesure appropriée et alerte visuellement l’opérateur d’un éventuel positionnement des échantillons hors des tolérances.
L’option logicielle R&S QAR-K50 permettant l’amélioration des mesures de réflexion peut être installée sur tous les instruments exploitant le firmware le plus récent opérant sous Windows 10 par la simple activation d’une clé logicielle.
