Marvin Test Solutions annonce à l’occasion du salon allemand productronica qui se tiendra du 10 au 13 novembre à Munich la disponibilité de nouveaux produits pour les applications de test de semi-conducteurs et le test fonctionnel au rang desquels figurent le testeur de semi-conducteurs TS-960 reposant sur une architecture modulaire au format PXI.
Le TS-960 de Marvin Test Solutions est une plate-forme de test intégré pour le test de semi-conducteurs. Ce testeur procure les avantages et la flexibilité d’une plate-forme de test modulaire exploitant des ressources au format PXI. Il vise notamment les applications de test de circuits SoC et SiP. Il est possible de configurer un système jusqu’à 512 canaux dans un seul châssis PXI.
Le système de base comprend 64 canaux d’entrées/sorties numériques, 64 canaux d’entrées/sorties numériques statiques, une alimentation programmable, un système d’auto-test, une interface de test intégrée ajustable, et divers outils logiciels d’aide au développement et à lexécution des programmes de test de Marvin Test Solutions. Un châssis PXI additionnel de 14 emplacements permet d’y intégrer d’autres ressources de test analogiques ou numériques.
D’un encombrement réduit, le TS-960 est doté du sous-système numérique GX5296, dernier instrument PXI de MTS. Affichant une résolution sous la nanoseconde sur le placement des fronts et des mesures paramétriques par broche (PMU), la carte PXI au format 3U GX5296 présente une forte densité de canaux : 32 entrées/sorties numériques de 125 MHz avec une résolution de placement de front de 1 ns.
Une suite complète d’outils logiciels pour le développement du programme de test ainsi que des outils dimportation de fichiers pour les formats STIL, VCD, et WGL, sont disponibles pour simplifier le déploiement et la migration du programme.