- Tektronix a annoncé la disponibilité du logiciel KTE V7.1 destiné au système de test paramétrique Keithley S530 afin d’accélérer le processus de fabrication des puces à semi-conducteurs.
- La version logicielle KTE V7.1 offre de nouvelles capacités de test parallèle et une option de test de capacité haute tension pour les applications de puissance et à large bande interdite.
L’émergence de la 5G et le développement des applications IoT ont dopé la demande mondiale de semi-conducteurs. Les pénuries mondiales exigent non seulement une augmentation des volumes de fabrication, mais aussi une accélération des capacités de test des nouvelles puces en cours de développement. Le nouveau système de test de Tektronix vise à accélérer le processus de fabrication en diminuant le temps de test. Selon Tektronix, la version KTE V7.1 améliore les temps de test de plus de 10 % par rapport à la version KTE V5.8.
Le lancement du logiciel KTE V7.1 s’appuie sur les améliorations apportées au système de test paramétrique de la famille S530 en termes de fonctionnalité et de débit depuis la sortie de la version KTE 7.0. La nouvelle conception de la tête de test offre une certaine souplesse dans l’utilisation des différentes cartes de sonde. La mise à niveau logicielle et matérielle permettent de réaliser des tests en un seul passage. De plus, la nouvelle unité de référence du système (SRU) réduit le temps d’étalonnage à moins de huit heures.
Principales améliorations :
- Test en parallèle : disponible pour la première fois en tant qu’option dans la version KTE V7.1, le testeur S530 dispose désormais de capacités de test parallèle qui améliore la productivité d’environ 30 % (en fonction des tests et des structures). Basé sur l’architecture matérielle du système de test S530, huit sources-mètres peuvent se connecter à n’importe quelle broche de test via n’importe quel port/rangée entièrement Kelvin du système. Le logiciel de test parallèle de Keithley optimise ainsi l’emploi de toutes les ressources du système pour maximiser la vitesse de test.
- Test haute tension : l’option de mesure de capacité en haute tension (HVCV pour High Voltage Capacitance Voltage) permet la réalisation de mesures entre 200 et 1000 volts, rendant ainsi possible le test de capacités (Cdg, Cgs, et Cds) jusqu’à une polarisation de 1100 V DC.
- Test jusqu’à 1100 V sur toutes les broches : jusqu’à deux sources-mètres de la gamme 2470, capables de générer et mesurer des tensions jusqu’à 1100V, peuvent être configurés dans un système S530-HV. La matrice de commutation haute tension intégrée au système S530-HV permet d’effectuer ces mesures sur n’importe quelle broche de test à tout moment.
