Analyseur de semi-conducteur Keithley 4200A-SCS

Les modules SMU pour l’analyseur de paramètres Keithley 4200A-SCS s’adaptent aux fortes capacités de connexion

  • Tektronix annonce deux nouveaux modules SMU (Source Measuring Unit ou sourcemètre) pour l’analyseur de paramètres Keithley 4200A-SCS.
  • Ces modules sont capables d’effectuer des mesures à faible courant même en présence d’une charge de forte capacité due à de longs câbles et à d’autres configurations de test complexes.

 
Les modules 4201-SMU et 4211-SMU sont destinés à s’intégrer à l’analyseur de paramètres semi-conducteur de l’analyseur Keithley 4200A-SCS. Ils sont spécialement conçus pour les configurations de test mettant en œuvre de longs câbles, des matrices de commutation, et autres interfaces de montage. De telles configurations de test exploitées lors d’applications de mesure de faible courant peuvent augmenter la capacité observée à la sortie de la SMU, même si l’appareil sous test présente lui-même une très faible capacité. Une capacité trop importante des liaisons de test est trop élevée conduisent pourtant à une instabilité des mesures de courant de faible niveau.

Pour s’affranchir de cette problématique, les nouveaux modules sont capables de délivrer une tension et de mesurer un courant via de plus grandes longueurs de câbles plus longs ou d’une capacité de connexion plus élevée que celle des SMU traditionnels.

Selon Tektronix, sur la plage de mesure de courant la plus basse, le 4201-SMU et le 4211-SMU peuvent alimenter et mesurer un système 1000 fois plus capacitif que ce qui était jusqu’à aujourd’hui possible. Les nouveaux modules Keithley se distinguent par leur stabilité de mesure avec une charge de capacité pouvant atteindre 1 µF.

Les modèles 4201-SMU et 4211-SMU peuvent être intégrés à un analyseur de paramètres 4200A-SCS existant sans nécessiter son retour au centre de service de Tektronix.

Le 4200A-SCS est un analyseur de paramètres modulaire et intégré pour la caractérisation électrique de matériaux et de composants semi-conducteurs. Il permet de mesurer de façon synchronisée les évolutions du courant selon la tension (I-V), de la capacité selon la tension (C-V) et de caractériser le comportement des composant à des impulsions de courant et de tension. Un analyseur peut recevoir jusqu’à neuf SMU. Il est doté d’un écran tactile permettant la configuration des tests, l’analyse des paramètres, et l’édition de graphiques. Les procédures de caractérisation de semi-conducteurs et autres matériaux peuvent être automatisées.