réflectomètre optique haute résolution de la gamme AQ7420 de Yokogawa

Yokogawa propose le réflectomètre haute résolution de la gamme AQ7420

  • Le réflectomètre optique haute résolution de la gamme AQ7420 de Yokogawa met en œuvre la technologie OLCR (optical low-coherence reflectometry).
  • Ce réflectomètre convient notamment à l’analyse de la structure interne des modules optiques et à la visualisation des microfissures dans les connecteurs optiques.

 
Le réflectomètre haute résolution de la gamme AQ7420 présente une résolution spatiale de 40 µm ainsi qu’une sensibilité pour les mesures de réflexion arrière, allant jusqu’à -100 dB ou moins, sans bruit parasite. Associé à l’unité de tête de capteur optionnelle, il est également possible de mesurer simultanément la perte d’insertion en plus de la rétrodiffusion optique.

Contexte du développement de ce réflectomètre

Dans ses recherches sur la photonique en silicium et la production de connecteurs optiques, Yokogawa explique avoir pris conscience de plusieurs besoins émergents qui ne pouvaient pas être satisfaits par les solutions existantes sur le marché. Ceux-ci incluent : la réduction encore plus importante du bruit parasite ; la mesure simultanée de la réflexion arrière et de la perte d’insertion ; l’amélioration de la stabilité des formes d’onde mesurées ; et un temps de mesure plus rapide. L’objectif était de développer une nouvelle solution pouvant répondre à ces exigences. Ce qui a conduit au développement du réflectomètre haute résolution de la gamme AQ7420.

Deux modèles sont disponibles : à longueur d’onde unique (1310 nm) et à deux longueurs d’onde (1310 et 1550 nm). Un logiciel de contrôle pour Windows 11, un capteur dédié optionnel pour la mesure de perte, divers codes maîtres (compatibles avec différents types de connecteurs) et un code d’ajustement de distance pour ajuster la position de départ de la mesure sont également proposés.

Principales caractéristiques du réflectomètre AQ7420

Une des principales caractéristiques de l’AQ7420 est sa capacité à réduire le bruit parasite. Avec les dispositifs basés sur la technologie OLCR/OFDR conventionnelle, le bruit parasite (fantôme) est souvent observé dans des zones où il n’y a pas de réflexion réelle (selon les caractéristiques de l’équipement). Ce qui peut entraîner des erreurs de jugement. Dans de telles situations, une analyse correcte des formes d’onde dépend largement, selon Yokogawa, des utilisateurs disposant d’une expertise spécifique. En revanche, selon son constructeur japonais, le nouvel AQ7420 dispose d’une technologie qui réduit considérablement le bruit parasite.

Cet instrument offre également la possibilité de mesurer simultanément la réflexion arrière et la perte d’insertion. Selon Yokogawa, les instruments OLCR/OFDR conventionnels sont souvent incapables de mesurer avec précision la quantité de réflexion arrière en raison de la faible précision de la mesure de l’axe vertical (niveau de réflexion). Le réflectomètre haute résolution AQ7420 vise à résoudre ce problème en permettant une mesure avec une incertitude de ±3dB. De plus, en utilisant le capteur optique, il est possible de mesurer simultanément la perte d’insertion avec une incertitude de ±0.02dB.

Ce réflectomètre se distingue également par sa rapidité. Par rapport à celui de génération précédente (AQ7410), le temps de mesure est environ 50% plus rapide, soit environ 6 secondes contre 12 secondes auparavant.

La plage de réflexion arrière de -100 dB de l’AQ7420 répond à l’exigence de -85 dB ou moins pour détecter des microfissures. Il offre une incertitude de mesure de réflexion arrière de ±3 dB dans la plage normale (-14,7 à -85 dB), tandis que dans la plage haute sensibilité, elle est de ±3 dB (-50 à -90 dB) et de ±5 dB (-90 à -100 dB). Avec la tête capteur en option, la plage de mesure des pertes d’insertion est de 0 à 10 dB, avec une incertitude de ±0,02 dB.

Ce réflectomètre optique est doté d’un mécanisme de contrôle de polarisation qui vise à éliminer la dépendance à la polarisation. Ce qui permet une mesure fiable et stable d’éléments fortement dépendants de la polarisation.

Le réflectomètre, d’un poids d’environ 8 kg, est intégré dans un boîtier mesurant 430 mm (L) x 132 mm (H) x 350 mm (P) (hors protecteur et poignée).