- Le WavePulser 40iX de Teledyne LeCroy est conçu pour caractériser et analyser les interconnexions et les câbles exploités pour la transmission de signaux selon les protocoles série à haut débit tels que PCI Express, HDMI, USB, SAS, SATA, Fibre Channel, InfiniBand, Gigabit Ethernet et Ethernet automobile.
Selon Teledyne Lecroy, les tests d’interconnexion et la validation dans le domaine temporels étaient jusqu’à présent le plus souvent réalisés avec des réflectomètres temporels (TDR pour Time Domain Reflectometer) pour caractériser la réponse impulsionnelle en générant un profil d’impédance. Les TDR présentent une résolution spatiale élevée. Ce qui permet de localiser avec précision les défauts le long de la ligne de transmission, se traduisant par des changements du profil d’impédance. Les analyseurs de signaux vectoriels (VNA pour Vector Network Analyzer), présentant une dynamique élevée, sont généralement utilisés pour mesurer les paramètres S des composants radiofréquence (RF). Lorsqu’ils sont employés pour les tests d’interconnexion à grande vitesse, les VNA ne permettent pas de déterminer la réponse en courant continu et ils ne disposent pas d’outils d’analyse paramétrique pour la simulation dans le domaine temporel, l’émulation, le déclenchement temporel et l’analyse de gigue. Selon Teledyne Lecroy, aucun des deux instruments (TDR et VNA) ne répond entièrement aux besoins de test et de validation d’interconnexions à grande vitesse.
Le WavePulser 40iX simplifie le processus de test et de validation des interconnexions à grande vitesse en offrant la possibilité de réaliser des caractérisations à la fois dans les domaines temporels et fréquentiels. En une seule acquisition, cet instrument effectue la caractérisation en fréquence des paramètres S comme un analyseur de réseau vectoriel (VNA), le profil d’impédance comme un réflectomètre temporel (TDR), et fournit également des capacités d’analyse. Il permet de s’intéresser à la couche physique du signal en caractérisant les câbles de données série, les canaux, les connecteurs, les vias, les fonds de panier, les cartes à circuits imprimés, les puces électroniques et les circuits SoC. Les paramètres S mesurés peuvent être utilisés pour des analyses complémentaires : fenêtrage temporel, de-embedding des interconnexions, diagrammes de l’œil, la simulation de modèles de données série et l’analyse de la gigue.
« Le WavePulser 40iX rassemble des capacités d’analyse temporelle et fréquentielle dans un seul instrument et permet de détecter des défauts tels que des connecteurs mal assemblés, des câbles mécaniquement endommagés ou l’emplacement de discontinuités dans le canal « , explique Eric Bogatin, spécialiste de l’intégrité du signal chez Teledyne LeCroy. « De telles défauts sont impossibles à détecter en se fiant aux seuls paramètres S mesurés dans domaine fréquentiel parce que ces effets sont dispersés dans la réponse en fréquence de l’élément sous test. Le WavePulser 40iX les identifie et les repère avec une résolution spatiale inférieure à 1 mm. Il assure également la mesure des paramètres S en mode simple et mixte sur une gamme de fréquences allant du continu (DC) à 40 GHz. »
