- Rohde & Schwarz organise en partenariat avec Würth Elektronik et PE Systems l’édition 2024 des Oscilloscope Days qui aura lieu, de 9h30 à 12h30, les 17 et 18 avril 2024.
- Cet événement virtuel propose un programme de conférences qui présenteront les dernières possibilités de test avec un oscilloscope et les évolutions des fonctions de test des oscilloscopes de dernière génération.
- Ces sessions en ligne s’intéresseront notamment à l’électronique de puissance et la CEM, ainsi qu’à l’intégrité des signaux et de l’alimentation.
- Les participants pourront interagir avec les intervenants lors de sessions de questions-réponses.
Programme du Mercredi 17 avril 2024
– 09:30 – 9:45 : Bienvenue et introduction
– 09:45 – 10:15 : Conférence inaugurale
Cyclage de puissance orienté application des semi-conducteurs de puissance à large bande passante.
Pr. Kallfass de l’Université de Stuttgart
– 10:15 – 11:05 : Partie 1 : Défis de conception en matière de test et de configuration
– Session a : Mesures de courants et de hautes tensions
– Session b : Compensation de boucle – Conception et mesures du convertisseur Buck
De plus en plus d’applications sont électrifiées et automatisées. Ainsi, la consommation d’énergie et l’efficacité deviennent plus importantes que par le passé pour réduire la consommation d’énergie globale à un minimum réel. Il en résulte la nécessité d’effectuer des tests efficaces et d’ajouter des contre-mesures telles que des filtres dans la conception. Cette session donnera un aperçu de ce qu’il faut garder à l’esprit lors de la conception d’un banc de test notamment pour tester les semi-conducteurs à commutation plus rapide en SiC et GaN.
Nicholas Le Bas de Rohde & Schwarz
Robert Schillinger & Mohamed Al-Alami de Würth Elektronik
– 11:05 – 11:15 : Questions et réponses
– 11:05 – 11:30 : Pause
– 11:30 – 12:20 : Partie 2 : Comment assurer la CEM
– Session a : Analyse du spectre à l’aide d’oscilloscopes
– Session b : Conception pour la CEM – Conception et mesures des convertisseurs Boost
Avec une densité d’intégration croissante, l’interaction entre les différents éléments constitutifs de tout système électrique devient une tâche plus cruciale à étudier. Cette présentation fournira une vue d’ensemble sur la manière de sélectionner et de vérifier les composants de filtrage appropriés, ainsi que sur la manière de traquer les problématiques CEM intra- et inter-systèmes.
Sofia Perez-Simbor de Rohde & Schwarz
Robert Schillinger et Mohamed Al-Alami de Würth Elektronik
– 12:20 – 12:30 Questions et réponses
Programme du Jeudi 18 avril 2024
– 09:30 – 09:45 : Bienvenue et introduction
– 09:45 – 10:45 : Partie 3 : Vérification des paramètres du système
– Session a : Automatisation des tests en électronique de puissance
– Session b : Fondamentaux de la mesure sur les alimentations à découpage
Lors des investigations sur les convertisseurs de puissance, outre les sujets déjà bien connus du débogage et de la CEM, le besoin de caractérisation et de qualification in situ des composants a augmenté de manière significative. Cette présentation vous montrera comment l’automatisation des tests, combinée à des outils d’analyse améliorés et à la sélection des sondes de courant et de tension adéquates, permet d’effectuer ce travail de manière plus efficace et plus fiable.
Jens Schweickhardt de PE-Systems
Alexander Küllmer de Rohde & Schwarz
– 10:45 – 11.00 : Questions et réponses
– 11:00 – 11:15 : Pause
– 11:15 – 12:15 : Partie 4 : Débogage de l’intégrité du signal
– Session a : Comment déboguer l’intégrité du signal avec PI ?
– Session b : L’interface Gigabit Ethernet sous les aspects CEM
Les appareils intelligents deviennent de plus en plus courants et il y a donc un besoin accru d’intégrer plusieurs interfaces de communication et CPU ou SoC qui sont capables de gérer et de traiter la grande quantité de données générées. Ainsi, le filtrage sur les interconnexions comme par exemple Ethernet et le débogage de l’intégrité du signal sur des interfaces comme PCIe, USB deviennent de plus en plus importants. Cette présentation donnera un aperçu de l’interaction entre l’alimentation et l’intégrité du signal, ainsi que de l’interaction du filtrage sur les voies de données.
Pasi Suhonen de Rohde & Schwarz
Adrian Stirn de Würth Elektronik
– 12:15 – 12:30 : Questions et réponses
