- Pickering Interfaces, fournisseur de solutions modulaires de commutation et de simulation de signaux pour le test et la vérification électroniques, a annoncé une nouvelle gamme de matrices de commutation PXI à deux pôles à haute densité.
Les matrices de la série 40-580 (32×8) et 40-583 (64×4) sont supportées par les deux outils de test de Pickering (BIRST and eBIRST) permettant le diagnostic approfondi des relais et l’identification des relais approchant leur fin de vie ou ceux qui auront pu être endommagés par des commutations à chaud au-delà de leurs spécifications.
Offrant 256 points de croisement de 2 pôles, ces matrices embarquent des relais électromécaniques avec contact plaqués or supportant des tensions de commutation jusqu’à 300VDC/250VAC et jusqu’à 60W de puissance. Ils supportent un courant maximum de 2A en commutation à chaud ou à froid. La connexion des signaux s’effectue via des connecteurs de type Sub D 78 ou DIN 160.
Ces matrices, au format 3U et occupant un seul emplacement PXI, peuvent être utilisées dans n’importe quel châssis PXI ou PXIe Hybride, ainsi que dans les châssis LXI et LXI/USB de Pickering.
La solution d’autotest BIRST intégrée facilite l’identification des relais défaillants. Aucun équipement de test complémentaire n’est nécessaire. Il suffit de déconnecter le câble en face-avant de la carte, de lancer l’application BIRST pour que l’outil lance un test de diagnostic pour repérer les relais présentant des contacts défectueux. Les outils de test eBIRST externes testent en outre les connexions de la face-avant et simplifient la recherche de pannes en fournissant une visualisation graphique du positionnement les relais défectueux.
Ces nouveaux modules, bénéficiant d’une garantie de trois ans, viennent en complément de la matrice 40-582 (16×16) existante. Ils sont fournis avec les pilotes compatibles avec divers langages de programmation.
