L’analyseur d’impédance de la série IM7587 de Hioki, représenté en France par Equipements Scientifiques, couvre une gamme de fréquence jusqu’à 3GHz. Il peut ainsi être employé pour le test de composants électroniques exploités par les équipements de communication selon les standard Wi-Fi et LTE ainsi que les solutions de géolocalisation GPS.
L’analyseur d’impédance IM7587 de Hioki, commercialisé en France par Equipements Scientifiques, effectue des mesures sur une gamme de fréquences supérieure à celle du modèle IM7585, lancé sur le marché l’an dernier, qui était limitée à 1,3 GHz.
L’IM7587 couvre une bande de fréquence de mesure allant de 1 MHz à 3 GHz.
Cet instrument peut effectuer des mesures avec un temps de cycle de 0,5 ms.
En mode LCRmètre, l’instrument effectue des mesures à une fréquence donnée. L’IM7587 offre une fonction de test « bon/mauvais » reposant sur des valeurs limites définies par l’utilisateur ainsi qu’une fonction de tri de composants. La fonction de test par comparaison délivre des résultats se basant sur un seul ensemble de critères, alors que la fonction de tri classe les composants selon plusieurs ensembles de critères (jusqu’à 10).
En mode analyseur, l’instrument effectue des mesures à diverses fréquences. L’IM7587 offre des fonctions d’évaluation sur zone et de crête pour fournir un résultat de test Bon/Mauvais des composants électroniques selon des caractéristiques de fréquence. Le jugement sur zone est utilisé pour vérifier si les valeurs mesurées des composants cibles se situent dans la zone définie par l’utilisateur, tandis que le test de crête permet d’évaluer les points de résonance.
L’instrument offre également une nouvelle fonctionnalité d’évaluation ponctuelle fournissant un résultat de test (Bon/Mauvais) selon plusieurs paramètres de fréquence configurés par l’utilisateur.
En juillet, Hioki a également lancé l’interface SMD IM9201 qui, couplé à l’IM7587, autorise le test de composants électroniques jusqu’à 3GHz.
Aperçu des caractéristiques de l’analyseur d’impédance IM7587 de Hioki :
- Précision de base: Z: 0,65% de la valeur lue – Phase : 0,38 degré (valeur représentative)
- Temps de mesure minimal : 0,5 ms (mesure analogique)
- Plage de mesure: 100 mΩ à 5 kΩ
- Gamme de fréquence : 1 MHz à 3 GHz
- Niveau du signal de mesure: -40,0 dBm à +1,0 dBm (4 mV à 502 mV)
