- Le testeur de cartes électroniques i3070 Series 7i de Keysight Technologies vise à réduire les temps de tests.
- Ce testeur in-circuit, qui peut tester jusqu’à jusqu’à 5760 nœuds d’une carte électronique, sera présenté lors du salon Productronica qui se tient à Munich du 14 au 17 novembre 2023.
Le testeur i3070 Series 7i exploite un algorithme de test de court-circuit qui se déroule en deux étapes : une phase de détection et une phase d’isolation. Ce qui, selon Keysight, accélère la processus de test de 50 % par rapport aux méthodes traditionnelles.
Grâce aux broches Quad-Density de dernière génération, il peut prendre en charge jusqu’à 5 760 nœuds de test tout en conservant une faible empreinte au sol (800 mm x 1,500 mm x 1,970 mm). Il peut accueillir des cartes présentant une surface de allant de 50 mm x 60 mm à 470 mm x 500 mm.
Ce testeur in-situ de cartes électroniques permet de tester les supercondensateurs jusqu’à 100 Farads grâce à une solution d’intégration qui élimine le besoin d’une électronique de fixation individuelle.
Il peut effectuer des mesures de courant jusqu’à des niveaux aussi faibles que 100 nanoampères (nA) et améliore la couverture grâce à sa capacité de génération automatique de tests de clusters. Le processus de formation de clusters de composants passifs est automatisé afin d’éliminer une tâche manuelle de regroupement des composants. Ce qui réduit ainsi les interventions humaines et les erreurs potentielles.
Ce système de test est doté de ports fonctionnels afin d’intégrer par exemple un analyseur de test de LED et un système de programmation de mémoire Flash. Il intègre également un analyseur x1149 pour le test de composants Boundary Scan.
Le testeur i3070 Series 7i présente une compatibilité ascendante avec les programmes et les interfaces de test des systèmes de test des séries E9988E et E9988EL.
