Kit d'analyse pour convertisseur d’alimentation à découpage de Tektronix.

Tektronix présente ses solutions dédiées au test de puissance à PCIM 2019

  • Tektronix présentera une gamme de solutions de test et de mesure au salon allemand PCIM qui se tiendra à Nuremberg, du 7 au 9 mai 2019.
  • Le stand de Tektronix comprendra quatre zones dédiées et des démonstrations pratiques axées sur la conversion d’énergie, l’efficacité énergétique, l’intégrité énergétique et la caractérisation des dispositifs semi-conducteurs de puissance.

# Principales solutions mises en vant par Tektronix lors de PCIM 2019 :

    • Nouveau kit d’analyse pour convertisseur d’alimentation à découpage SiC MOSFET et GaN FET
      Les technologies de commutation de semi-conducteurs de puissance telles que le SiC ou le GaN, constituant certaines topologies actuelles d’électronique de puissance, sont difficiles à optimiser. Le kit d’analyse pour convertisseur d’alimentation à découpage SiC MOSFET et GaN FET de Tektronix repose sur une technologie de sonde brevetée visant à caractériser tous les paramètres critiques afin d’optimiser les topologies de l’électronique de puissance à base de SiC et de GaN.

 

    • Intégrant un ASIC développé par Tektronix, l’oscilloscope à signaux mixtes MSO de la série 6 présente une bande passante de 8 GHz et une fréquence d’échantillonnage de 25 Géch/s simultanément sur ses 4 canaux.

 

  • Optimisées pour les mesures d’intégrité de puissance, les sondes Power Rail affichent une faible contribution au bruit, une tension d’offset DC jusqu’à 60V, une bande passante jusqu’à 4GHz, une faible charge et diverses options de connectivité.