- Marvin Test Solutions (MTS) annonce un sous-système de test visant à prolonger la durée de vie des testeurs de semi-conducteurs traditionnels.
- Reposant sur des châssis et de l’instrumentation au format PXI et PXIe de la gamme de MTS ainsi qu’une sélection de produit d’autres fournisseurs industriels.
- Le sous-système MTEK (Marvin Test Expansion Kit) permet d’intégrer de nouvelles capacités de test aux systèmes de tests semi-conducteurs existants mais qui ne répondent plus aux nouvelles exigences de test.
Conçue pour être employée aussi bien lors des phases d’ingénierie et que dans des environnements de production, MTEK est une solution compacte, d’architecture ouverte et plug and play qui permet d’ajouter des fonctionnalités RF, numériques et/ou analogiques à un système de test existant.
Cette solution est compatible avec les plates-formes de test de semi-conducteur proposées notamment par Teradyne, LTX / Credence, Eagle, ASL100, Sentry et Verigy.
«Nos clients recherchaient une solution qui leur permettrait d’étendre la durée de vie de leurs systèmes de test existants et éviter d’investir dans un système complet de remplacement», a déclaré Stephen T. Sargeant, PDG de Marvin Test Solutions. « MTEK rend cette mise à niveau possible en intégrant les capacités de test supplémentaires au fur et à mesure de l’évolution de leurs besoins ».
MTEK ainsi que d’autres solutions de test de semi-conducteur de MTS seront présentées au salon américain Semicon Ouest du 11 au 13 juillet 2017 qui se tient au Moscone Center de San Francisco, Californie.
