- Avec la capacité d’analyse spectrale intégrée à ses analyseurs de réseaux vectoriels de la gamme PNA, Keysight accélère la vitesse des tests.
Keysight Technologies (ex-division Test et Mesure de Agilent) annonce une nouvelle fonctionnalité d’analyse spectrale pour ses analyseurs de réseaux vectoriels (VNA) hyperfréquence des gammes PNA et PNA-X. Selon le fabricant, cela réduirait les temps de test par un facteur de 10 à 500.
L’intégration de cette fonctionnalité dans un VNA simplifie les connexions du système et assure des gains de temps en proposant des mesures rapides d’émissions parasites dans l’instrument dédié à la mesure de paramètres-S, la compression et la distorsion des équipements électroniques du domaine de l’aérospatiale, l’électronique de défense et la communication sans fil.
La mesure d’émissions parasites nécessite souvent des temps très importants ce qui force à des compromis entre la durée et la couverture de test. Avec la nouvelle fonctionnalité, selon Keysight, les résultats de mesure délivrés par les PNA sont comparables à ceux obtenus avec des analyseurs spectre ou de signaux autonomes les plus performants du moment.
Le VNA effectue des mesures de spectre simultanées sur tous les ports de test. Ce qui réduit le temps de cycle de conception en autorisant – avec une seul connexion – la caractérisation des mélangeurs, des convertisseurs, des amplificateurs, des modules ou sous-systèmes. Les exemples de mesures comprennent les fuites OL, RF et FI, les harmoniques, les produits d’intermodulation et d’autres produits de mélange d’ordre supérieur.
Pour les mesures avec des interfaces de test et sur Wafer, des méthodes de calibrage corrigent les erreurs de réponse du récepteur et suppriment les effets des câbles et accessoires. Ce qui rend possible la définition de marges de test et de spécifications de dispositifs plus strictes.
