- National Instruments (NI) propose un nouveau module sourcemètre ou SMU (Source measure unit) au format PXI se démarquant par la densité de ses voies.
- Le module PXIe-4163 est doté de six fois plus de voies DC que les SMU au format PXI de générations précédentes.
- Cet instrument peut être employé dans des applications de tests RF, de MEMS, de composants exploitant des signaux mixtes ou des composants semi-conducteurs analogiques.
Une unité SMU permet comme son non l’indique permet de mesurer et délivrer simultanément des tensions et des courants.
Le module PXIe-4163, opérant sur 4 quadrants offre une une résolution en courant de de 100 pA et des cadences d’échantillonnage jusqu’ à 100 kS/s.
Grâce à la fonction SourceAdapt, il est possible de maximiser la stabilité et la précision de mesure, en personnalisant la réponse transitoire en fonction des caractéristiques de chaque charge.
La densité de voies DC plus élevée de la carte SMU PXIe-4163 peut notamment profiter au système STS de NI adapté au test de semi-conducteurs ainsi qu’à diverses solutions de test automatique au standard PXI.
Lancé en 2014, le STS de NI repose sur une plate-forme PXI pouvant intégrer divers instruments modulaires comme les transcepteurs de signaux vectoriels (VST) offrant une bande passante de 1 Go, les cartes SMU de classe fA, etc.
Principales caractéristiques de la carte NI SMU PXIe-4163 :
- Jusqu’à 24 voies dans un seul emplacement PXI Express
- +/- 24 V par voie
- Jusqu’à 100 mA de courant émis/absorbé par voie
- Sensibilité de courant de 100 pA
- Jusqu’à 100 kéch./s de vitesse d’échantillonnage et de mise à jour
- Technologie SourceAdapt minimise les dépassements et les oscillations
- Jusqu’à 408 voies SMU dans un même châssis PXI (baie 4U)
- Prise en charge du SMU par le STS concernant notamment le câblage système, l’étalonnage et le brochage
