testeur de mémoires de la gamme Magnum 7H de Teradyne

Teradyne propose le testeur de mémoires de nouvelle génération de la gamme Magnum 7H

  • Teradyne annonce le lancement du testeur de mémoires de la gamme Magnum 7H conçu pour répondre aux exigences du test des mémoires à large bande passante (High Bandwidth Memory – HBM), généralement utilisées sur des GPU et des accélérateurs mis en œuvre dans les serveurs exploités pour les applications d’intelligence artificielle générative.

 
Le testeur Magnum 7H est conçu pour effectuer des tests parallèles, à grande vitesse et avec la précision requise sur des mémoires HBM à plusieurs puces empilées (stacked die) produites en grand volume.

Le Magnum 7H est un testeur de mémoires qui prend en charge une large gamme de versions de la norme HBM, y compris HBM2E, HBM3, HBM3E, HBM4 et HBM4E. Il offre une couverture de test appropriée, depuis le test des wafers base-die jusqu’au test du cœur mémoire et au burn-in. Il prend également en charge le test des dispositifs HBM pré-séparés (pre-singulated) au niveau Known-Good-Stack-Die (KGSD) ou Chip-on-Wafer avec des sondes et des cartes de test traditionnels, ainsi que des dispositifs post-séparés (post-singulated) avec de nouveaux bare-die probers/handlers, afin d’améliorer la qualité globale des dispositifs de mémoire.

Principales caractéristiques du testeur Magnum 7H

  • Tests sur mémoires et logique : vérification des stacks HBM comprenant à la fois des dies logiques et des dies mémoire DRAM. Il exécute des tests mémoire haute vitesse grâce à un générateur de motifs algorithmiques (APG) flexible, et des tests logiques avec l’option Logic Vector Memory (LVM). La fonction Fail List Streaming (FLS) garantit une capture des erreurs tant pour les tests mémoire que pour les tests logiques.
  • Tests haute vitesse pour les dispositifs HBM3/3E et de nouvelle génération HBM4/4E, jusqu’à 4,5 Gbps.
  • Parallélisme : essentiel pour réduire le coût total de test des mémoires HBM, le testeur peut être configuré avec jusqu’à 9 216 broches numériques et 2 560 broches d’alimentation, garantissant l’efficacité de contact des sondes de test et une augmentation du débit de 1,6 fois dans les environnements de production en volume.