Tektronix présente deux nouveaux modules optiques destinés à son oscilloscope à échantillonnage DSA8300. Ces modules se distinguent par leur sensibilité au test de masque (-14 dBm) et leur très faible niveau de bruit (3,9 µW ). Ils présentent également de nouvelles fonctionnalités visant à améliorer l’efficacité des conceptions 100G lancés en production.
Tektronix a également apporté des améliorations à sa solution de test de liaisons optiques 400G, notamment pour la mesure PAM-4 TDECQ basée sur la norme Ethernet de l’IEEE et les mesures de soutien connexes pour les tests optiques.
Les solutions Tektronix pour la caractérisation et la validation optiques 100G/400G ont été présentées lors de l’OFC manifestation sur les réseaux et les communications optiques qui a eu lieu du 21 au 23 mars 2017 à Los Angeles, en Californie.
Lorsqu’ils sont montés sur des oscilloscopes à échantillonnage, les nouveaux modules optiques 80C17 et 80C18 offrent une sensibilité de masque de -14 dBm, ce qui dépasse, selon Tektronix, les exigences pour les normes PAM-4 28 GBd tout en présentant des performances de bruit de à 3,9 µW avec sur une large plage de longueurs d’onde.
Avec ses 2 canaux, le module 80C18 permet de doubler les capacités des essais. Tektronix propose également des outils d’analyse pour décomposer le contenu du signal en termes de bruit et de jigue, afin d’aider les ingénieurs à comprendre le problème sous-jacent.
Les modules optiques 80C17 et 80C18 et les améliorations logicielles apportées concernant les fonctions de test 400G seront disponibles à partir de fin avril 2017. Ils seront commercialisés partir de 68 300€ .
