- La quatrième édition du manuel sur la mesure paramétrique proposée par Keysight Technologies est disponible en téléchargement gratuitement.
Edité pour la première fois en 2010, ce manuel, qui délivre des conseils aux utilisateurs novices et avancés, est destiné aux scientifiques, ingénieurs et techniciens impliqués dans tout aspect des tests paramétriques.
Cette dernière édition comprend une nouvelle section consacrée aux tests et à la caractérisation des dispositifs de puissance.
# Principaux sujets abordés dans ce manuel :
- Bases de la mesure paramétrique
- Principes fondamentaux de la SMU
- Mesures paramétriques sur wafer
- Mesures en fonction du temps à grande vitesse
- Mesures de résistance, de diodes et de transistors
- Mesure de la capacité d’un semi-conducteur
- Caractérisation des dispositifs de puissance
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