- En 2025, les NI Days faisait leur retour à Paris après sept ans d’absence. La manifestation parisienne dédiée aux professionnels du test, de la mesure et de l’automatisation se tiendra à nouveau au New Cap Event Centre le mardi 2 juin 2026.
- Organisé par NI (ex National Instruments), cet événement rassemble ingénieurs, développeurs, décideurs techniques et entreprises partenaires autour des dernières évolutions de l’écosystème matériel et logiciel du fabricant américain.
- Ce rendez-vous s’adresse aux industriels, notamment de l’automobile, l’aéronautique, la défense, les télécommunications et l’énergie, qui sont confrontés à des problématiques de validation, de connectivité et de traitement des données de test.
Sessions techniques et retours d’expérience
Le programme de l’événement s’articule autour de présentations animées par des ingénieurs d’application de NI et des experts du secteur. Les sessions abordent les méthodologies de test modernes, l’optimisation des flux de développement logiciel, ainsi que l’intégration de technologies émergentes comme l’intelligence artificielle et l’analyse de données à grande échelle (data analytics) dans les processus de production.
Des études de cas pratiques et des retours d’expérience permettent aux participants de découvrir comment des entreprises ont résolu des problématiques concrètes d’ingénierie, telles que la réduction des cycles de test ou la standardisation des bancs de mesure automatisés.
Exposition technologique et espace de démonstration
En parallèle des conférences, une zone d’exposition permet de découvrir les nouveautés du catalogue NI, notamment autour des environnements logiciels phares comme LabVIEW et TestStand, ainsi que des plateformes matérielles d’acquisition de données et de test modulaire (PXI, CompactRIO).
Cet espace regroupe également les partenaires de l’écosystème NI (intégrateurs du réseau Alliance Partner et fabricants tiers). Les visiteurs peuvent y observer des démonstrations de systèmes de test Hardware-in-the-Loop (HIL) pour la simulation temps réel, de solutions de test RF (radiofréquence) ou de bancs de caractérisation de semi-conducteurs.
L’accès à l’événement est gratuit, sous réserve d’une inscription préalable sur la plateforme en ligne de NI.
>> Programme complet et inscription
