Au programme des conférences de la journée PXI du 17 mars

Le 17 mars, se tiendra la quatrième journée technique proposée par le PXI Group au Novotel de Massy Palaiseau (91). Une série de présentations sera proposée par Marvin Test Solutions, Acquisys représentant Adlink et Mac Panel, Signadyne, Keysight Technologies, VTI Instruments, Chroma ATE Acquisys et Spherea Test & Service. Entre deux sessions de conférences, les solutions de test au format PXI des différents fournisseurs seront présentées sur leur stand. 


Au programme de la journée PXI du 17 mars

  • 8H30 — 9H00: Accueil des visiteurs
  • 9H00 : Introduction et présentation de la journée
  • 9H15
    La Simulation matériel et logiciel dans un système de test automatique
    Conférencier : Victor Fernandes, European Manager, Marvin Test solutions

Résumé : Cette présentation examine les exigences et les méthodes associés à l’exécution d’un programme de test en mode simulation. La simulation nécessite l’exécution de l’application avec un sous‐ensemble de l’instrumentation ou sans instrumentation et avec ou sans l’unité sous test (UUT). La solution présentée expose en détail la mise en œuvre d’un système de simulation qui est créé par l’amélioration du moteur d’exécution de l’application faisant partie d’un environnement logiciel de développement d’applications commerciales (ATEasy).

  • 9H45
    Avantages du PXI Express pour les applications nécessitant une grande bande passante
    Conférencier : Christian Ropars, Président Acquisys pour Adlink

Résumé : Le PXI Express permet aujourd’hui de réaliser des applications nécessitant des bandes passantes de plus en plus élevées. Cependant dans ces applications tous les éléments, incluant la ressource d’acquisition, le contrôleur PXI Express, l’unité de stockage mais également le châssis, ont une grande importance. Le routage du bus PCIe sur le fond de panier peut s’avérer complexe. ADLINK propose aujourd’hui des solutions parmi les plus performantes permettant de réaliser ces applications avec une bande passante élevée.

  • 10H30 : Pause et visite de l’exposition
  • 11H00
    Bringing PXIe and FPGA Technologies Together to Boost Test and Measurement Equipment
    Conférencier : Marc Almendros, CEO—Chief Executive Officier, Signadyne

Résumé : One of the key advantages of the PXI standard is the capability to create test equipment which is built with standdard hardware but with custom software. This customization allows the user to perform more efficient test operations with a cost‐effective solution. However,the rising complexity of current test applications demands faster test equipment, and this is where FPGA technology comes in. Signadyne’s FPGA technology provides easy‐to‐use hardware customization, giving as a result hardware‐accelerated test and measurement equipment.

  • 11H30
    Speed up test, optimization and validation of next generation power amplifier front end module
    Conférencier: Rob Hood ou Jonathan Cossard, Keysight Technologies

Résumé: The presentation will detail a modular solution that addresses two key test challenges facing power amplifier (PA) front end module (FEM) manufacturers: reducing cost and increasing data throughput. Both must be done despite the addition of more complex test techniques such as envelope tracking (ET) and digital pre‐distortion (DPD) being employed to overcome efficiency issues caused byhigh peak to average ratio modulation formats. The RF PA/FEM characterization & test Reference Solution enables rapid, full characterization of next‐generation power amplifier modules such as PAD devices, including measurements for S‐parameter, demodulation, power, adjacent channel power, and harmonic distortion. With the M9451A PXIe FPGA Measurement Accelerator, closed/open loop digital pre‐distortion and envelope tracking measurements can be made in tens of milliseconds.

  • 12H30 : Buffet et visite de l’exposition
  • 14H00
    Synchroniser plusieurs châssis PXI Express par Ethernet
    Conférencier: Frédéric Martial, Responsable VTI Instruments Europe

Résumé : Traditionnellement, les systèmes de test destinés à l’acquisition de données de capteurs sont installés dans une salle de contrôle centralisée. Ceci est fait dans le but de pouvoir synchroniser précisément les instruments et les données issues des acquisitions des capteurs. A une petite échelle, sur un oscilloscope multivoies par exemple, nous considérons comme acquise la synchronisation des données, et l’affichage de celles‐ci à l’écran est étroitement lié au temps. On peut considérer
ces données sur l’oscilloscope comme déterministes dans la mesure où nous voyons et enregistrons l’ordre des événements selon une séquence cadencée. Cependant les oscilloscopes n’offrent qu’un nombre de voies limité. La clé est de pouvoir étendre ce principe aux systèmes d’acquisition modulaires. Dans le sport automobile, il est important de savoir qui passe la ligne d’arrivée le premier et l’ordre d’arrivée des compétiteurs. Cette exigence est exactement la même pour la plupart des systèmes d’acquisition multi voies. Connaître l’ordre des événements et leur assigner une date à chacun est crucial pour le traitement des données après les tests. Cette présentation évoquera les plateformes modulaires PXI Express et des méthodes pour synchroniser plusieurs châssis PXIe dans un système distribué.

  • 14H30
    How to achieve high speed / high accuracy sourcing and measurement by using PXI based SMU

Conférencier : Jeff Lee, Product Marketing Director, Chroma ATE
Résumé : Many modern electronic devices require hgih precision voltage/current sourcing and measurement. Despite obvious motivation ‐ increase test throughput, for high speed sourcing and measurement, many don’t realize the source and measurement speed and the control timing accuracy can also be important factor to the accuracy of the measurements. In this talk, we’ll start from the benefits of higher source & measurement speed and how that may affect measurement accuracy. Then few application examples will be discussed. And finally, we’ll end up at the features provided in Chroma PXI based SMU to achieve high speed yet accurate voltage/current sourcing/measurement.

  • 15H00 : Pause et visite expo
  • 15H30
    Choisir la bonne solution de connexion pour les systèmes de test PXI
    Conférencier: Christian Ropars, Président Acquisys, réprésentant Mac Panel

Résumé: Dans un système de test, l’interconnexion des équipements de test avec l’unité à tester est un élément important. En effet, les performances globales du système et son évolution peuvent être limitées par le câblage. Cette présentation examine les différentes solutions de connexion pouvant être utilisées pour la réalisation de systèmes de test basés sur l’instrumentation modulaire PXI, avec leurs avantages et inconvénients. Trois solutions sont envisagées, câbles individuels, solution
d’interconnexion traditionnelle et solution interconnexion avancée.

  • 16H00
    ATEC DynaSeries : L’entrée du PXI dans les bancs de test
    Conférencier : Nicolas Favarq Spherea Test & Services

Résumé : La nouvelle génération de bancs de test de Spherea fait appel aux ressources PXI. C’est une nouvelle orientation, comment Spherea a abordé l’intégration du PXI dans ses nouveaux bancs

  • 16H30 : Conclusions et fin des conférences