- Teradyne a annoncé le lancement d’Omnyx, une plateforme de test pour le contrôle en production de cartes électroniques (PCBA) et de sous-ensembles.
- Cette solution est conçue pour répondre aux besoins spécifiques des cartes électroniques utilisées par les applications d’intelligence artificielle et de centres de données.
La plateforme Omnyx de Teradyne dispose de capacités de tests structurels, paramétriques, d’interconnexion à haute vitesse et fonctionnels. Elle vise à s’attaquer aux principales problématiques de production pour réduire les défauts non détectés et améliorer la qualité des assemblages électroniques.
Selon Teradyne, les produits électroniques de nouvelle génération pour l’intelligence artificielle et les centres de données mettent en difficulté les testeurs in-circuit (ICT) traditionnels, axés sur les défauts structurels et paramétriques qui surviennent lors de l’assemblage des composants. Face à la complexité et à la valeur croissantes des cartes électroniques utilisées dans les centres de données, les fabricants ont besoin d’une plateforme de test permettant d’identifier et de résoudre de nouveaux problèmes d’intégrité du signal et des défauts opérationnels avant l’assemblage final.
Fonctionnalités du testeur Omnyx
Le testeur Omnyx de Teradyne intègre des tests d’interconnexion à haute vitesse et des tests en mode opérationnel, pilotés par logiciel, offrant une couverture des défauts à vitesse réelle (at-speed) et des défauts opérationnels, généralement détectables uniquement lors des phases de test fonctionnel.
Grâce à cette approche, les fabricants peuvent améliorer la qualité des composants et des sous-ensembles en identifiant en amont des défauts coûteux à détecter en aval du processus de production. À la clé : un meilleur rendement et une meilleure qualité en fin de ligne, afin de satisfaire aux exigences strictes des centres de données modernes à hautes performances.
