- Seica présentera deux nouvelles solutions dédiées au test des semi-conducteurs de puissance à l’occasion du prochain salon PCIM Expo & Conference, qui se tiendra du 6 au 8 mai 2025 à Nuremberg, en Allemagne : une solution de test des composants de puissance et un banc de caractérisation de résistance thermique.
Solution de test des composants de puissance
Le système S20 IS³ (photo) est une solution de test des composants de puissance discrets, y compris les technologies SiC et GaN. Conçu pour des tests statiques et dynamiques en courant alternatif (AC) et continu (DC), il permet une caractérisation des paramètres électriques, afin de garantir la fiabilité et la performance des composants tels que les IGBT, MOSFET et diodes.
Les tests statiques mesurent des paramètres tels que la tension en conduction (Vce, Vds), le courant de fuite (Ic, Id) et la tension de seuil (Vth), garantissant que le dispositif respecte ses spécifications électriques. Les tests dynamiques évaluent les caractéristiques de commutation, y compris les temps d’activation/désactivation, les temps de montée/descente et les pertes d’énergie. En testant à la fois les paramètres statiques et dynamiques, les fabricants peuvent détecter d’éventuelles défaillances avant que les composants ne soient intégrés dans des systèmes de puissance, évitant ainsi des pannes coûteuses sur le terrain tout en certifiant que les dispositifs fonctionneront de manière optimale dans des conditions d’exploitation.
Caractérisation de résistance thermique
Le banc de test S20 RTH permet la caractérisation de résistance thermique (RTH) grâce à une gestion de la puissance et du refroidissement. Il peut gérer en toute sécurité des charges de courant élevées (configuration standard : 1200 A à 15 V ou 30 V), assurant une évaluation fiable des performances thermiques en conditions réelles.
Le matériel de commutation de puissance développé par Seica est un élément clé de l’architecture de test. Il permet un arrêt contrôlé et programmable du courant de charge, minimisant les oscillations et autorisant des mesures précises dès 80 microsecondes après l’interruption du courant élevé.
La configuration du banc est évolutive, allant de 2 dispositifs testés (DUT) jusqu’à 12 DUT en parallèle, selon les besoins en cadence. La température, le débit et la pression du fluide de refroidissement pour chaque DUT sont automatiquement mesurés et contrôlés par le système, garantissant une stabilité thermique optimisée et des mesures fiables.
Cette fonctionnalité vise à simplifier la phase de configuration initiale, et permet de gérer des températures allant jusqu’à 120°C ainsi que des débits allant jusqu’à 100 litres par minute.
