- Rohde & Schwarz accueillera les 5 et 6 mai 2026 une conférence en ligne gratuite intitulée « From Design to Validation », dédiée à l’électronique de puissance.
- Cet événement réunira des experts de l’industrie et du milieu académique pour discuter des méthodes de mesure et de validation des systèmes électroniques de puissance modernes, allant des composants discrets aux convertisseurs connectés au réseau.
Le marché de l’électronique de puissance est confronté à des exigences accrues en matière d’efficacité énergétique, de densité de puissance et d’intégration aux réseaux électriques à grande échelle. Les ingénieurs doivent gérer des comportements non idéaux des composants, des contraintes transitoires rapides sur les dispositifs à large bande interdite (comme le carbure de silicium et le nitrure de gallium), ainsi que des exigences CEM (compatibilité électromagnétique) de plus en plus strictes.
La conférence proposera des solutions centrées sur la mesure, mises en œuvre à l’aide d’outils tels que les oscilloscopes, les analyseurs de réseau vectoriels et les analyseurs de puissance.
Programme et interventions
5 mai 2026 : La conférence s’ouvrira avec une conférence plénière de Tobias Keller (Hitachi Energy), intitulée « Power Semiconductors: Shaping the Future Power Grid – Performance and Reliability for Future Decades ». Cette intervention abordera la qualification des dispositifs en silicium et en carbure de silicium (SiC) pour les applications haute tension, en mettant l’accent sur la résistance aux cycles thermiques, la robustesse en court-circuit et les données de fiabilité à long terme.
6 mai 2026 : Une seconde conférence plénière sera présentée par Veit Hellwig (Infineon Technologies), qui examinera l’impact de la technologie au nitrure de gallium (GaN) sur les topologies d’onduleurs haute tension pour moteurs.
Autres sessions techniques proposées
- Caractérisation des composants passifs
Une session analysera les méthodes de caractérisation des composants passifs, en mettant l’accent sur l’extraction des inductances et capacités parasites à des fréquences supérieures à 100 MHz. Les intervenants démontreront comment ces non-idéalités influencent la stabilité des convertisseurs. - Caractérisation dynamique des dispositifs SiC et GaN
Une autre présentation détaillera la caractérisation dynamique automatisée des dispositifs de puissance en SiC et GaN. Elle montrera comment les bancs d’essai à double impulsion peuvent être synchronisés avec des numériseurs haute vitesse pour réduire l’incertitude de mesure et capturer les comportements de récupération rapides.
Deux sessions consacrées à la CEM
- Utilisation des sondes de champ proche pour localiser les sources de rayonnement et valider l’efficacité des filtres EMI.
- Mesure des émissions conduites sur un prototype à petite échelle, en utilisant un réseau de stabilisation d’impédance de ligne (LISN) et un oscilloscope à signaux mixtes. Les participants découvriront une méthodologie de conception de filtres exploitant les capacités temps-fréquence de l’instrument.
Mesure de l’efficacité énergétique
Un webinaire abordera les mesures d’efficacité dans les alimentations des centres de données et des serveurs d’IA. Les participants apprendront comment les analyseurs de puissance permettent de suivre les formes d’onde déformées et les transitoires de charge rapides, afin de répondre aux exigences de la certification 80 Plus.
Conformité aux normes de flicker et d’harmoniques
La dernière session portera sur la conformité aux normes de courant harmonique et de flicker de tension pour les produits connectés au réseau basse tension. Les limites et procédures de test définies dans les normes IEC/EN 61000-3-2/-3-3 et IEC/EN 61000-3-12/-3-11 seront passées en revue. Les participants découvriront comment un logiciel de test de conformité intégré, couplé à un analyseur de puissance, peut automatiser les décisions de conformité, depuis l’évaluation des prototypes jusqu’à l’homologation finale.
Profils des intervenants
Les intervenants à cet évènement sont des experts de Rohde & Schwarz, Hitachi, Infineon, PE-Systems, Würth Elektronik, ainsi que des représentants des universités de Brême et de Saragosse. Leurs contributions combineront perspectives académiques et expérience industrielle, offrant aux participants à la fois des bases théoriques et des stratégies pratiques de mesure.
Modalités pratiques
La conférence est gratuite, mais une inscription préalable est requise. Le programme détaillé, les biographies des intervenants et le lien d’inscription sont disponibles sur le site : www.rohde-schwarz.com/power-electronics-conference
