- Marvin Test Solutions complète sa plate-forme de solutions destinées au test fonctionnel Genasys par la carte GX6188 de commutation matricielle haute densité.
- La matrice GX6188 au format PXI de taille 6U vise les systèmes de test mettant en œuvre un grand nombre d’E/S et exigeant d’importantes capacités de commutation.
Cette carte est compatible avec tous les châssis PXI 6U standards ainsi qu’avec la plate-forme Genasys de Marvin Test Solutions qui comprend des ressources de test prêtes à l’emploi et une variété d’instruments modulaires.
La matrice GX6188 repose sur une architecture de commutation tridimensionnelle 104x8x8. Elle peut prendre en charge plusieurs ressources et permet la création de matrices de commutation de plus grande dimensions en interconnectant plusieurs cartes au bus 8 fils disposé en face avant de la carte GX6188. Ceci qui permet de créer diverses configurations de matrice de haute densité : 208x8x16, 312x8x24, 416x8x32, etc.
La carte offre la possibilité de connecter et d’interfacer des ressources à plusieurs points de test. La carte se compose d’une matrice 104×8 et d’une matrice 8×8. Elle peut connecter à 104 points de test à huit ressources externes. Chacune des 104 connexions peut être acheminée vers les huit ressources via le bus 8 fils intégré et la matrice 8×8.
« La matrice GX6188 est idéale pour les applications de test mettant en œuvre des signaux mixtes et un nombre élevé d’E/S. C’est pour cela qu’elle été sélectionnée pour le nouveau testeur d’armement de bombardiers de l’US Air Force », a déclaré le Major Général Stephen T. Sargeant, USAF (Ret.), CEO de Marvin Test Solutions.
Les modules de commutation de la gamme Genasys sont équipés de circuits intégrés qui comptent et enregistrent le nombre d’ouverture/fermeture des relais. Ce qui permet de prédire la durée de vie des relais.
L’architecture Genasys vise à mettre « n’importe quelle ressource de test à disposition de n’importe quelle broche ». Le logiciel de commutation SwitchEasy permet de router les signaux d’une ressource instrument vers l’unité sous test et d’éviter le routage de signaux qui pourraient endommager le testeur ou l’unité sous test.
