Anritsu annonce la commercialisation du nouveau MP2100B BERTWave, un analyseur tout-en-un qui intègre les mesures de taux d’erreur binaire (BERT) et un oscilloscope à échantillonnage dédié au test de développement et de fabrication des modules et de composants électriques et optiques. Le MP2100B, qui est le successeur du MP2100A, gagne en efficacité pour l’évaluation de modules optiques multi-canaux.
Les centres de données doivent accroître la capacité de transmission de leurs serveurs et de leurs équipements de réseaux pour répondre à la demande des services du Cloud. De ce fait, la demande en R&D sur les technologies de transmission et en équipements haut-débit est en augmentation, d’où la nécessité de réaliser des tests pour s’assurer l’intégrité des signaux dans ces technologies et équipements. Le nouveau MP2100B BERTWave d’Anritsu supporte simultanément les mesures de taux d’erreur binaire (BER) et les diagrammes de l’il. Ainsi un seul MP2100B peut mesurer tous les paramètres exigés pour évaluer les modules et composants utilisés par les systèmes de communication optiques.
Selon Anritsu, à la différence des systèmes conventionnels pour les mesures BER et les analyses du diagramme de l’il qui nécessitent deux instruments de mesures distincts, un seul MP2100B peut supporter l’ensemble des tests nécessaires, diminuant ainsi de près de 40% le coût d’équipement. D’autre part, l’ajout d’un commutateur et d’un atténuateur optique, en tant qu’accessoires optionnels, fait de cette nouvelle version une solution de mesure complète pour l’évaluation de composants et modules multi-canaux optiques.
Pour supporter les débits de mesure plus rapides exigées par les fabricants, un nouveau mode d’échantillonnage allant jusqu’à 150 kéch./s exécute les analyses de diagramme de l’il ; les tests pour les masques de l’il sont, selon le constructeur, 1,5 fois plus rapide que les modèles conventionnels. De plus, la mesure du taux d’erreurs binaires (Bit Error Rate Tester ou BERT) intégrée dans le MP2100B peut évoluer sur 4 canaux pour des mesures BER simultanées de modules optiques multi-canaux tels que QSFP+, etc., diminuant, selon Anritsu, jusqu’à 80% le temps de test par rapport aux modèles traditionnels.
