- Seica présentera ses solutions de test dédiées au test des cartes électroniques, des modules et des semi-conducteurs sur le stand A1-538 du salon Productronica qui se tient à Munich du 18 au 21 novembre 2025.
- La solution de test à sonde mobile de Seica, le Pilot VX (photo), sera présentée avec une plate-forme de conception repensée, avec des options telles que le FlyPod et le FlyStrain™ et la gestion optimisée du logiciel Viva.
Le Pilot VX est entièrement automatisé et son architecture mécanique ainsi que ses contrôleurs de mouvement propriétaires permettent selon son fabricant italien de réduire jusqu’à 50 % le temps de test. Douze têtes de test multifonctions permettent un sondage double face simultané sur 44 points maximum et un matériel de mesure, avec la possibilité d’alimenter la carte (jusqu’à 2 A par sonde) via les 8 sondes électriques standard. Une nouvelle technique de mesure par micro-ondes peut y être intégrée ainsi qu’une nouvelle génération de capteurs LED combinant des capteurs visibles et infrarouges dans une seule unité tout-en-un, ou un oscilloscope volant de plus de 750 MHz.
La plate-forme logicielle Viva™ permet la parallélisation de différents types de tests, et des capacités d’analyse basées sur les techniques d’intelligence artificielle peuvent optimiser automatiquement le flux de test en temps réel.
Les visiteurs pourront également découvrir deux nouvelles solutions, les derniers ajouts à la plateforme Valid de Seica, dédiée aux tests fonctionnels et en circuit via un lit de clous ou un récepteur fixe standard.
Le système Valid SL sera présenté dans une ligne de production PCBA automatisée, avec des modules de chargement/déchargement Seica Automation, un applicateur d’étiquettes et des convoyeurs. Sa conception permet une intégration dans des environnements de production à haut volume. Son architecture sans câble garantit une intégrité et une fiabilité optimales ainsi qu’une maintenance à long terme. Il est équipé de nouvelles cartes de scanner à 128 canaux, permettant des configurations de plus de 4 400 canaux. La zone de test standard étendue peut être configurée comme un système à un ou deux étages, et son architecture multi-tâches, prise en charge par la nouvelle version du logiciel Viva™, qui comprend une nouvelle interface opérateur, améliore la convivialité tant pour les programmeurs que pour les opérateurs.
Le testeur Valid LR présenté est la dernière génération de la plateforme de Seica conçue pour inclure les capacités nécessaires au remplacement des systèmes hérités obsolètes, permettant aux clients d’assurer la continuité des processus de test établis en offrant une compatibilité avec les programmes de test. Ce testeur est conçu pour offrir une évolutivité et des performances élevées, avec une architecture sans câble, prenant en charge jusqu’à 5888 canaux avec un multiplexeur numérique 1:8. Il offre jusqu’à 24 alimentations programmables, garantissant une gestion flexible des tests de mise sous tension. L’interface opérateur intuitive et personnalisable est basée sur un automate avec communication OPC-UA pour une intégration dans les environnements de test modernes.
La nouvelle gamme S20 présentée comprend deux solutions dédiées aux tests de semi-conducteurs de puissance. Le S20 IS³ est une solution de pour test des dispositifs de puissance discrets, y compris les technologies SiC et GaN. Conçu pour les tests statiques et dynamiques en courant alternatif et continu, ce tesetur effectue une caractérisation des paramètres électriques, un processus nécessaire pour garantir la fiabilité et les performances de composants tels que les IGBT, les MOSFET et les diodes. Les tests statiques mesurent des paramètres tels que la tension à l’état passant (Vce, Vds), le courant de fuite (Ic, Id) et la tension de seuil (Vth), garantissant que le dispositif répond à ses spécifications électriques, tandis que les tests dynamiques évaluent les caractéristiques de commutation, notamment les temps d’activation/désactivation, les temps de montée/descente et les pertes d’énergie. En testant à la fois les paramètres statiques et dynamiques, les fabricants peuvent détecter les défaillances potentielles avant que les composants ne soient intégrés dans les systèmes d’alimentation, évitant ainsi des pannes coûteuses sur le terrain tout en certifiant que les dispositifs fonctionneront de manière optimale dans les conditions d’utilisation.
Le testeur S20 IS³ présente une conception compacte et peu encombrante, avec une intégration dans un seul boîtier des tests statiques CC, de grille et dynamiques CA. Le système est configurable, ce qui permet à l’utilisateur d’inclure les modules nécessaires pour effectuer les tests dont il a besoin aujourd’hui, et extensible, ce qui permet d’ajouter d’autres modules pour répondre à de nouvelles exigences de test. Le logiciel intégré, piloté par menus, est convivial, ce qui facilite la configuration des tests, et une série de fonctionnalités, telles que l’oscilloscope intégré, facilitent le processus de débogage et offrent une traçabilité complète des résultats des tests.
Le système de test S20 RTH est conçu pour fournir une caractérisation précise de la résistance thermique (RTH) grâce à des capacités de gestion de l’alimentation et du refroidissement. Dans la conception moderne des alimentations électriques, une attention accrue est accordée à l’efficacité électrique de l’ensemble du système et à la température de jonction des dispositifs à semi-conducteurs. Ce type de test évalue la contrainte thermique exercée sur les dispositifs MOSFET de puissance lorsqu’ils sont utilisés dans des alimentations à découpage. Grâce à ce calcul et aux caractéristiques physiques du dispositif, il est possible de prédire la température atteinte à l’intérieur de la jonction, ainsi que la marge admissible ou le dissipateur thermique nécessaire pour garantir que le système dispose d’une marge thermique appropriée pendant son fonctionnement. Cette approche est fondamentale, car un calcul correct permet une évaluation plus précise de la durée de vie des composants/dispositifs et garantit un fonctionnement dans la zone de fonctionnement sécurisée.
Le matériel de commutation de puissance de Seica est un élément clé de l’architecture de test, permettant un arrêt contrôlé et programmable du courant de charge qui minimise les oscillations, ce qui permet au système d’effectuer des mesures précises dès 80 µs après l’arrêt du courant élevé. La configuration du banc est évolutive, allant de 2 dispositifs sous test (DUT) à 12 DUT testés en parallèle, en fonction des besoins en termes de débit. La température, le débit et la pression du liquide de refroidissement vers chaque DUT sont automatiquement mesurés et contrôlés par le système, ce qui optimise la stabilité thermique et garantit des mesures fiables. La purge des liquides de refroidissement est gérée par le système, soit dans un réservoir autonome, soit dans le système de l’usine. Cette fonctionnalité simplifie les opérations de configuration initiale et peut gérer des températures allant jusqu’à 120 °C et des débits allant jusqu’à 100 l/min.
Les modèles S20 IS³ et S20 RTH communiquent et envoient toutes les mesures de test et les données de tri via des normes industrielles, et les capacités logicielles de Seica permettent l’intégration des exigences spécifiques de l’utilisateur final.
Toutes les solutions présentées intègrent la plateforme logicielle Viva de Seica, qui permet une intégration avec tous les aspects des processus de fabrication du client : collecte de données, traçabilité, interaction avec le MES, opérations de réparation. Viva exploite également l’IA pour améliorer la détection des défauts et suggérer des solutions techniques plus avancées lors des tests de cartes électroniques et de modules. Tous les systèmes sont équipés de la solution de surveillance industrielle Canavisia, qui permet de surveiller à distance la consommation de courant et de tension, l’alimentation secteur, la température, les voyants lumineux et d’autres paramètres utiles pour indiquer le bon fonctionnement, fournir des informations pour la maintenance prédictive et, de manière générale, rendre les systèmes compatibles avec les normes actuelles de l’industrie 5.0.
