Test automatique
Testeur in-situ et fonctionnel
• Analyseur de défauts de fabrication (MDA)
• Testeurs In-Situ (ICT), Fonctionnel (FT), Combiné
• Testeurs Optique (AOI) – Testeurs Rayon X (AXI)
• Testeurs de composants
• Testeurs « configurables » CompactPCI/PXI
Les testeurs sont majoritairement utilisés en production et en maintenance. Le marché demande des solutions toujours plus efficaces aux meilleurs coûts, capables de s’adapter à des cadences de production en constante progression. L’intégration et la complexité des produits fabriqués et leur configuration éventuelle pendant les phases de production exigent des systèmes de test évolutifs. De ce fait, les testeurs intègrent aujourd’hui le plus souvent des instruments et logiciels ouverts et modulaires.
Test automatique
20 octobre 2017
Les matrices PXI de la gamme 40-559 de Pickering gagnent en densité
13 septembre 2017
Pickering introduit les modules 65-22x de matrice de relais haute densité au format LXI
11 septembre 2017
Marvin Test Solutions lance trois châssis PXIe
30 août 2017
Les interfaces de contrôle à distance de National Instruments passent au PCI Express Gen 3
25 août 2017
Les multiplexeurs PXI 40-785B de Pickering montent à 50 GHz
6 juillet 2017
Marvin Test Solutions propose une solution d’extension de la durée de vie des systèmes de tests
1 juin 2017
Astronics Test Systems présente la plate-forme PXI ATS-3100
27 janvier 2017
Pickering introduit des multiplexeurs haute densité PXI de 2 Ampères
13 décembre 2016
L’architecture de commutation PXI Genasys de Marvin Test Solutions vise à simplifier le développement des systèmes de test
14 novembre 2016
Rohde & Schwarz présente une solution dédiée au test de clés de véhicules