- Le salon Measurement World réunira, du 6 au 9 septembre 2021 à Eurexpo Lyon, des fournisseurs d’instruments de test et mesure.
- Durant le salon, des conférences portant sur une variété de thématiques seront animées par les experts du Collège Français de Métrologie, de l’EMVA et du LCIE Bureau Veritas.
- Ces conférences sont accessibles gratuitement aux visiteurs de l’exposition.
# Lundi 6 septembre
– 11h – Les grandes règles du Marquage CE
Elie Nainemoutou, LCIE Bureau Veritas
– 14h15 – Incertitudes de mesure
Benoit Savanier, Cetiat
– 15h – Optimisation des périodicités d’étalonnage
Bernard Larquier, BEA Métrologie
# Mardi 7 septembre
– 9h45 – Introduction : Présentation de l’EMVA
Jean Caron, Euresys
– 10h – Imagerie rapide et plateforme eyeMotion
Agnès Marfoure, Photonlines
– 10h30 – L’IA pour les applications « vision » rendue accessible
Boris DUCHE, IDS Imaging
– 11h – Diagnostic optique et Intelligence Artificielle
Bastien Agullo, RD-Vision
– 11h30 – Les technologies de vision du photon au cloud
Pascal Chevalier, I2S
– 13h45 – Business Pitch Présentation du CIM 2021
Jérôme Lopez, Collège Français de Métrologie
Mme Paldy, Sartorius Lab Instruments / M. Girroir – Tech Soft 3D / M. Koskinen – Beamex / M. Chevalier – Ellab / M. Secretin – imc J+R / M. Simoes – Trescal / M. Williams, CCPI Europe / M. Stavale – Trescal
– 13h45 – Systèmes de mesure de masse robotisés sur table et de précision
– 13h55 – Développement de la nouvelle génération de logiciels métrologie
– 14h05 – Certificats d’étalonnage digitaux : support de la transformation digitale des processus industriels
– 14h15 – Retour d’expérience d’un laboratoire de métrologie connecté au sein d’une entreprise
– 14h25 – L’électromobilité, M. Secretin – imc J+R
– 14h35 – Etalonnage de pipettes
– 14h45 – Un nouveau capteur de température auto-validant ou auto-étalonnable. Le capteur Inseva
– 14h55 – Fournisseur d’essais d’aptitude
– 15h30 – Cybersécurité des processus industriels à travers l’IEC 62443
Jérôme Hamel, Expert Cybersécurité LCIE Bureau Veritas
– 16h30 – Réussir son projet en CEM
François Poitevin, Expert CEM LCIE Bureau Veritas
# Mercredi 8 septembre
– 9h45 – Introduction : Présentation de l’EMVA
Michel Ollivier, EMVA
– 10h – Choisir l’outil basé sur l’Apprentissage profond le plus approprié pour votre application
Jean Caron, Euresys
– 10h30 – Images multispectrales pour l’analyse de la qualité de l’air
Alexandre Besson, Laser 2000
– 11h – Vision traditionnelle et Deep Learning, quelles différences pour la mise en œuvre d’une application industrielle ?
Xavier Savin, Visionic
– 12h – Comprendre la télécentricité pour mesurer
Mme Angelica Comptangelo Technical marketing manager Edmund Optics
– 14h – Evolution de la Directive RED : comment maîtriser l’évaluation de la Cybersécurité de vos produits IoT, à travers la norme 303 645
Jonathan PAUC, Expert Cybersécurité LCIE Bureau Veritas
– 15h – Accès aux marchés internationaux : comment réussir la mise sur le marché de vos produits
Stéphane Ranchon LCIE Bureau Veritas
– 16h – Mise au point CEM des équipements
François Poitevin, Expert CEM LCIE Bureau Veritas
# Jeudi 9 septembre
– 10h – Mesure 3D des états de surface
Patrice Belin Product Sales Marketing Manager Stil/Marposs
– 11h – MiCAT Planner : Programmation automatique à partir d’une définition CAO. Améliorez considérablement votre productivité !
Abdel Taourit, Mitutoyo
– 13h45 – Trust Metrology, le label de bonnes pratiques en métrologie
Sébastien Denaës, Colas
– 14h30 – Mesures de température – bonnes pratiques et métrologie
Jacques-Olivier Favreau, Cetiat
