Test RF sur wafer

Rohde & Schwarz organise le RF Testing Innovations Forum 2026

  • Rohde & Schwarz organise le 20 mai 2026 la seconde édition de son forum virtuel consacré aux innovations en matière de tests radiofréquences (RF).
  • Cet événement rassemble des experts issus de Dassault Systèmes, FormFactor et Focus Microwaves pour aborder les problématiques techniques liées à la montée en fréquence des systèmes de communication par satellite et des équipements de défense.

 
L’ouverture de la conférence, animée par Markus Loerner de Rohde & Schwarz, traitera de la transition des composants spécialisés vers des modèles de commercialisation plus larges. Cette évolution est dictée par le besoin croissant en systèmes RF pour le secteur spatial et militaire. L’analyse portera sur la comparaison des sous-systèmes RF et l’établissement d’exigences de test visant à réduire les cycles de mise sur le marché.

Mesures de phase absolue et méthodes de calibration

Un volet technique sera consacré à la mesure de phase absolue sur de larges bandes de fréquences, un aspect parfois secondaire dans les phases de conception initiale. La présentation détaillera les approches de calibration de phase, notamment l’utilisation de générateurs de peignes de fréquences et leur traçabilité. Des études de cas illustreront les transformations dans le domaine temporel, la validation des convertisseurs de fréquence et les spécificités des analyseurs de réseaux vectoriels (VNA).

Caractérisation en ondes sub-térahertz

Avec l’émergence des communications numériques à plusieurs gigabits, il devient nécessaire d’effectuer des mesures de paramètres S sur plaquettes (wafer). Une démonstration technique en direct depuis les laboratoires de FormFactor à Dresde présentera les protocoles pour obtenir des mesures stables en bande D (jusqu’à 170 GHz). L’utilisation d’un analyseur de la gamme R&S ZNA équipé d’extenseurs de fréquence sera présentée pour illustrer les contraintes liées à l’environnement de test sur plaquette.

Validation des paramètres de bruit jusqu’à 67 GHz

La session de clôture portera sur les techniques de mesure de bruit dans les circuits RF, essentielles pour les amplificateurs à faible bruit (LNA) utilisés dans les satellites LEO (orbite terrestre basse), la détection à distance et le calcul quantique. L’amplificateur LNA constituant le premier étage d’un récepteur, ses caractéristiques de bruit déterminent la sensibilité globale du système. La conférence détaillera l’extraction des paramètres de bruit via la méthode de la source froide (« cold-source »), effectuée avec un analyseur de réseaux vectoriels doté de fonctions spécifiques de mesure du facteur de bruit.
 
>> L’événement est accessible gratuitement sur inscription préalable.
 

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