- Seica présentera ses systèmes de test électronique lors de l’édition 2024 du salon electronica qui se tient à Munich du du 12 au 15 novembre.
- L’entreprise italienne présentera notamment sur son stande A3 – 459 les systèmes de test Pilot VX et Compact SL présentés dans une configuration entièrement automatisée.
Comme toutes les solutions du fabricant italien intègrant la plateforme intégrée Viva (VIP™), les testeurs Pilot VX et Compact SL peuvent être combinées sur une même ligne pour optimiser la productivité en configurant sélectivement le processus de test pour utiliser différentes technologies afin d’obtenir une couverture de test maximale en un temps de test minimal.
Le Pilot VX est équipé d’une architecture mécanique et d’un contrôleur de mouvement qui permettent, selon Seica, de réduire jusqu’à 50 % le temps de test. Douze têtes de test multifonctions offrent la possibilité d’un palpage double face jusqu’à 44 points simultanément exploitant un matériel de mesure adapté ainsi qu’une nouvelle technique de mesure basée sur les micro-ondes.
La plateforme Viva permet de gagner encore plus de temps en permettant la parallélisation de différents types de tests, et des capacités d’analyse basées sur les principes de l’intelligence artificielle peuvent optimiser automatiquement le déroulement des tests en cours d’exécution.
L’option FlyPod étend encore davantage la capacité de test en spécialisant une seule sonde mobile pour transporter jusqu’à 14 canaux, en permettant l’accès aux circuits boundary scan et en ajoutant une capacité de programmation embarquée sans aucun câble fixe externe, tandis que l’option FlyStrain™ peut également générer des cartes topologiques de pression/force de l’appareil testé.
Le Pilot VX peut être déployé dans toutes les phases du cycle de vie des produits, du concept à la conception, du prototype à la production. La capacité intrinsèque de la sonde volante Pilot VX à donner un accès précis à tous les points d’une première carte prototype, associée à une suite d’outils matériels et logiciels de mesure, y compris la fonction PR boost avec la capacité d’alimenter la carte (jusqu’à 2A par sonde) avec l’ensemble des 8 sondes électriques standard, permet le test et la validation des prototypes.
Le Compact SL est conçu pour maximiser la configurabilité et la personnalisation, en répondant à une gamme d’exigences de test : in-circuit, fonctionnel, combinatoire, ainsi que d’autres tâches telles que la programmation embarquée (OBP). La solution de test exposée comprend le nouveau module ATE Booster, le dernier ajout à la suite d’options disponibles, conçu pour maximiser la capacité de test des LED et les performances OBP, tout en réduisant les coûts grâce à l’optimisation des ressources matérielles requises.
La solution de test Mini 80, qui fait partie de la plateforme intégrée VIVA (VIP™) de Seica, sera également exposée. Plateforme permettant de développer des ICT personnalisés et des benchmarks de tests fonctionnels, elle fournit une gamme d’instruments intégrés, de matrices de commutation et d’alimentations utilisateur. L’utilisateur a toute latitude dans le choix de la configuration et des langages de programmation : la plateforme VIP™ permet l’intégration d’instruments prêts à l’emploi, et les séquences de test peuvent être développées à l’aide de l’environnement Viva Test Studio ainsi qu’une gamme de logiciels tiers, notamment LabView©, TestStand©, C et Python.
Canavisia, une société de Seica, sera également présente sur le stand A3-459 d’electronica avec une série d’outils destinés aux concepteurs d’électronique, aux ingénieurs de test et de production, qui peuvent être déployés en tant que solutions autonomes ou incorporés dans des systèmes de fabrication intégrés, qu’il s’agisse d’une production en petit ou en grand volume.
DeviceClip est un outil de programmation ISP (In-System Programming) universel conçu pour programmer tous les types de dispositifs à semi-conducteurs (microcontrôleurs, mémoires sérielles, dispositifs logiques programmables) de n’importe quel fabricant de semi-conducteurs. La solution est modulaire et peut être configurée pour fournir jusqu’à 64 canaux ISP parallèles, indépendants et multi-protocoles. Elle est fournie avec un panneau de contrôle intégré compatible avec n’importe quel système d’exploitation. Son micro-ordinateur intégré permet à DeviceClip d’atteindre la vitesse de programmation de n’importe quel appareil, et chaque canal du module peut être configuré pour prendre en charge différentes cibles.
Les visiteurs du salon allemand pourront également découvrir le nouvel outil LedMeter, qui permet de tester les diodes électroluminescentes couramment assemblées sur les cartes électroniques. Cet outil mesure la chromaticité RVB, la teinte, la chromaticité XY, la saturation des couleurs, l’intensité relative et la longueur d’onde en nanomètres. LedMeter dispose d’une architecture modulaire, basée sur la communication i2C : chaque module de contrôle peut gérer jusqu’à 64 capteurs et est disponible en version TTL <> USB et RS232.
Toutes les solutions exposées s’appuient sur la plateforme logicielle Viva Next de Seica, capable d’assurer l’intégration avec tous les processus de fabrication de l’industriel – collecte de données, traçabilité, interaction avec MES, opérations de réparation – et tous les systèmes de la série Next> embarquent la solution Industrial Monitoring de Canavisia, pour la surveillance à distance de la consommation de courant et de tension, de l’alimentation secteur, de la température, des indicateurs lumineux et d’autres paramètres pertinents pour indiquer le bon fonctionnement, fournir des informations pour la maintenance prédictive…
