Tektronix propose le système de test de semi-conducteurs de puissance Keithley S540. Ce système automatique est destiné au test paramétrique sur 48 broches au niveau du wafer des dispositifs et structures à semi-conducteur de puissance jusqu’à 3kV.
Optimisé pour être utilisé avec les derniers semi-conducteurs de puissance, y compris le carbure de silicium (SiC) et le nitrure de gallium (GaN), le S540 effectue les tests haute tension, basse tension et de capacité par simple pression sur sa sonde.
« Beaucoup de constructeurs utilisent des systèmes de tests hybrides, taillés sur mesure, pour leurs essais de semi-conducteurs de puissance qui nécessitent la modification manuelle des configurations d’essai lors du passage des tests basse tension aux tests haute tension. Ce qui ajoute des étapes aux processus et ralentit la production », a déclaré Mike Flaherty, Directeur Général de la Ligne de Produits Keithley chez Tektronix. « Le S540 est une solution intégrée adaptée aux environnements de production autorisant le test de nombreux dispositifs. »
Le système de test Keithley S540 peut effectuer des mesures paramétriques sur un maximum de 48 broches sans changer les câbles ou l’infrastructure de la carte de la sonde. Il peut également réaliser des mesures de capacité de transistors tels que Ciss, Coss et Crss jusqu’à 3kV, toujours sans reconfiguration manuelle des broches de test. Il affiche des performances de mesure sous-pA. Il peut également réaliser des tests de courant de fuite haute tension automatisés en moins d’une seconde.
Le système de test de semi-conducteur Keithley S540 est disponible à la commande dès à présent. Les livraisons démarreront dès mars 2017.
