Matrices à relais Reed (modèles 65-22x) au format LXI de Pickering Interfaces

Pickering introduit les modules 65-22x de matrice de relais haute densité au format LXI

Pickering Interfaces, fournisseur de solutions de commutation modulaires et de simulation pour le test et la validation électroniques, présentera ses nouvelles matrices haute densité de relais Reed au format LXI au salon IEEE Autotestcon qui se tient à Schaumburg, Etats-Unis, du 12 au 14 septembre 2017.
 
Les nouvelles matrices à relais Reed (modèles 65-22x) au format LXI (Lan eXtension for Instrumentation) ont été conçues à l’origine pour les tests de semi-conducteurs. La solution Reed Relay Matrix combine le châssis modulaire LXI de Pickering (modèle 65-200) avec sa nouvelle gamme de modules matriciels, permettant d’accéder à toutes les connexions de signaux sur les connecteurs 200 broches. Ces modules enfichables sont conçus avec les relais Reed de Pickering Electronics.

La gamme comprend quatre modèles enfichables proposant des matrices allant jusqu’à 1,536 × 4 par incréments de 128 (modèle 65-221), 768 × 8 par incréments de 64 (modèle 65-223), 384 × 16 par incréments de 32 (modèle 65-225) et 192 × 32 par incréments de 32 (modèle 65-227). Les utilisateurs peuvent spécifier autant de modules enfichables souhaités (jusqu’à six) et peuvent faire évoluer la matrice au grès des besoins. Plus de 1 500 relais peuvent être fermés simultanément pour répondre à des conditions spécifiques de tests paramétriques.

Ces matrices enfichables offrent également des listes de séquence de scan intégrées avec capacité de déclenchement, offrant aux utilisateurs la possibilité de définir une série de séquences prédéterminées sur un instrument LXI, les séquences peuvent être déclenchées par un logiciel ou l’un des seize entrées de déclenchement DIO (Digital Input Output) à collecteurs ouverts configurables par logiciel. Ils disposent également d’une capacité multi-bus pour des tests en parallèle.

Ces matrices possèdent les fonctions d’auto-test de relais intégré de Pickering (BIRST) et prennent en charge l’outil eBIRST conçu pour le test du système de commutation. Ces outils permettent d’identifier rapidement les relais en panne dans les modules.

Outre le test des semi-conducteurs, ce matrices peuvent être employées dans plusieurs autres secteurs industriels, comme par exemple, la vérification fonctionnelle des ECU automobiles.
 

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