Home Accueil
Agenda Salons
Annonces Offres
Qui est qui en T & M ?
Archives Actualités
Newsletter gratuite
Page de Liens
Bourse de l'emploi
Nous Contacter
Actutem <li>actualites du test, de la mesure et de l'électronique <li>le journal Test et Mesure Electronique gratuit du net

 
Actutem <li>actualites du test, de la mesure et de l'électronique <li>le journal Test et Mesure Electronique gratuit du net Abonnement gratuit à la Newsletter Actutem
  • Actualités
    Test & Mesure



    dBCalc un calculateur pour l'électronicien radio
    Calculateur dB




    Valeur crête, moyenne et efficace d'une tension AC
    Valeur crête, moyenne et efficace d'une tension




  •      Boundary-scan  (norme IEEE 1149.1)  pour surmonter les problèmes de test et de programmation des systèmes électroniques complexes

    Catégorie : Test et Mesure     28/01/2012

    Agilent Technologies présente le premier multiplicateur d'horloge de référence pour tests sur récepteurs

    Cette nouvelle solution gère de multiples fréquences d'horloge de référence allant de 19 à 100 MHz pour les applications de tests récepteurs comme les cartes mères PCIe® 1.x, 2.x et 3.0, les périphériques MIPI M-PHY et les dispositifs hôtes UHS-II

    Multiplicateur d'horloge Agilent N4880A

    La nouvelle solution améliore la précision et simplifie le montage pour les tests récepteurs PCI Express, MIPI M-PHY et SD UHS. Agilent Technologies a présenté aujourd’hui le premier multiplicateur d'horloge de référence du marché. Ce multiplicateur d’horloge de référence Agilent N4880A permet aux ingénieurs R&D et de test de verrouiller l'horloge du générateur de pattern du J-BERT N4903B et du ParBERT 81250A aux horloges de référence du système sous test.

    Cette nouvelle solution gère de multiples fréquences d'horloge de référence allant de 19 à 100 MHz pour les applications de tests récepteurs comme les cartes mères PCIe® 1.x, 2.x et 3.0, les périphériques MIPI M-PHY et les dispositifs hôtes UHS-II. L'utilisation du multiplicateur d'horloge de référence simplifie considérablement le montage de test du récepteur, aidant les équipes R&D et de test à caractériser les DUT et à vérifier la conformité à la norme en reproduisant avec précision les conditions de test.

    Avec les architectures d'horloge de référence classiques, où l'hôte ne peut pas fonctionner sur une horloge de référence externe, il est nécessaire de verrouiller le signal de pattern de stress généré à l'horloge de référence du récepteur sous test et cela, en raison du fait que le récepteur sous test obtient également son horloge d'échantillonnage de cette horloge de référence. Le non verrouillage du générateur de pattern à la même horloge de référence conduirait à des résultats de test de tolérance de jitter erronés et non-reproductibles.

    Certaines normes émergentes et existantes nécessitent cette topologie de test : les spécifications PCI Express® rev 2.x et 3.0 CEM pour le PCI-SIG®, le projet de spécifications MIPI M-PHY de l'alliance MIPI et le projet de spécification de carte SD pour dispositifs hôtes UHS-II utilisent une architecture de référence d'horloge commune. Dans le passé, il était très compliqué de reproduire de telles configurations et de reproduire des conditions de stress, notamment en cas de présence de composants d'étalement de spectre d'horloge et de gigue basse fréquence sur le signal d'horloge de référence.

    Pour plus d'informations, consulter la page wwww.agilent.com/find/n4880


    PC Industriels - Formations LabVIEW LabWindow CVI  Alimentations Delta Elektronika
    PC IndustrielsPC Industriels - Formation LabVIEW






    Livingston : Location et vente d'appareils de test et mesure
    Location et vente d'appareils de test et mesureLivingston.fr






    Pickering Interfaces - Des Matrices et Multiplexeurs RF / Hyperfréquence de haute qualité au standard LXI
    Pickering Interfaces - Des Matrices et Multiplexeurs RF / Hyperfréquence de haute qualité au standard LXIPickeringtest.com