Catégorie : Test et Mesure     5/01/2012

DELTEST : Analyseur Matriciel de Signature V/I (f) AMS 8003D

AMS 8003D - Analyseur Matriciel de Signature V/I (f)

Analyse V/I en fonction de la fréquence : finesse d’analyse améliorée localisation des défaillance plus précise productivité du test accrue

La société DELTEST commercialise des appareils de test et de diagnostic de composants et systèmes électroniques. Le dernier né de la gamme est le AMS 8003D - un analyseur Matriciel de Signature V/I (f).

Avec ce nouveau module Système 8000, DELTEST réinvente l’analyse V/I en y ajoutant une troisième dimension : la fréquence.

Rappel sur le test V/I

Un signal alternatif à courant contrôlé est appliqué entre chaque broche et la masse du composant à tester, le courant résultant est mesuré. Les résultats sont reportés sur un graphique de tension / courant qui représente la signature du point de test. La fréquence du stimulus est fixe et paramétrée par l’utilisateur.

Le balayage en fréquence : la nouvelle dimension du test V/I

Avec le nouveau module AMS 8003D, la fréquence évolue automatiquement par pas entre 2 seuils. Les résultats ainsi obtenus sont tracés sur une visionneuse 3D qui permet d’observer  les variations des signatures V / I  sur une plage de fréquence. Cette représentation peut conduire à mettre en évidence des défauts non visibles avec une analyse V/I standard.

L’analyse matricielle : extension du domaine d’analyse

Avec ce nouveau procédé, l’analyse V/I ne se fait plus entre la broche à tester et la référence (masse), mais entre toutes les broches du composant. Le test d’un composant à 20 broches génère un ensemble de données beaucoup plus important : 400, contre 20 avec un système classique.

Facilité d’analyse des résultats

Malgré l’abondance des résultats de test, une interface de visualisation performante permet une analyse fine et rapide des résultats. Le logiciel permet la comparaison automatique entre un étalon et le composant à tester, le résultat affiché sera ‘’BON’’ ou ‘’MAUVAIS’’.

Canaux multiples : test plus rapide

Le module AMS 8003D est équipé de 64 canaux (extensible) pour permettre l'acquisition des signatures sur les composants avec un nombre de broches élevé, voire même sur des cartes complètes  via un connecteur. Cela réduit considérablement le temps nécessaire pour acquérir des données et permet un diagnostic plus rapide.