Oscilloscope haute densité PXIe-5172 de National Instruments

National Instruments propose l’oscilloscope PXI haute densité PXIe-5172

National Instruments a annoncé l’oscilloscope haute densité PXIe-5172 dotés de quatre ou huit canaux échantillonnés simultanément et d’une bande passante analogique de 100 MHz. Cet oscilloscope au format PXI Express est intégré dans un module occupant un seul emplacement dans le châssis.

L’oscilloscope PXIe-5172 de National Instrument embarque un FPGA programmable par l’utilisateur lui permettant de personnaliser des fonctionnalités aux exigences d’applications spécifiques.

Il est équipé d’un FPGA Kintex-7 qui peut être utilisé pour mettre en œuvre des procédures personnalisées d’acquisition , de déclenchement, de traitement du signal et de transfert de données. Cette personnalisation logicielle peut s’effectuer via la plate-forme LabVIEW.

 

Aperçu des caractéristiques de l’oscilloscope NI PXIe-5172 :

  • 4 ou 8 canaux échantillonnés simultanément
  • Bande passante analogique : 100 MHz
  • Résolution : 14 bits
  • Vitesse d’échantillonnage jusqu’à 250 Méch/s
  • Plage d’entrée : 200 mVpp à 80 Vpp avec offset ± 20 V DC
  • Programmable par l’utilisateur avec LabVIEW FPGA
  • Impédance d’entrée sélectionnable : 50 Ω ou 1 MΩ
  • Prise en charge des horloges d’échantillonnage et de référence externes