Mike Frey et Mike Dewey (à droite) de Marvin Test Solutions (MTS) à IEEE Autotestcon 2017

Marvin Test Solutions à l’honneur à Autotestcon 2017

  • Mike Dewey (à droite sur la photo) et Mike Frey de Marvin Test Solutions (MTS) ont reçu respectivement le Prix Slattery et McGinnis.
  • Ces prix ont été remis lors de l’édition 2017 de la manifestation IEEE Autotestcon qui s’est déroulée du 11 au 14 septembre 2017 à Schaumburg, Illinois (États-Unis).
  • Mike Dewey, directeur du marketing de MTS, est lauréat du Prix Slattery décerné par le Comité de test automatique (ATC) de la National Defense Industry Association (NDIA).
  • Mike Frey est quant à lui lauréat du prix McGinnis décerné par le comité Autotestcon / IEEE (Institute of Electrical and Electronics Engineers).
  • L’obtention des deux prix par des collaborateurs d’une même entreprise est une première.

 
Le prix Slattery honore le souvenir de John Slattery, un ingénieur de la General Dynamics Electronics Division et ancien président du comité de contrôle et d’assistance logiciels du MATE Users Group. Il récompense chaque année une personne qui caractérise le mieux les contributions industrielles de John Slattery prenant en compte l’excellence technique ainsi que son implication dans le processus d’innovations et les évolutions industrielles.

Le prix Frank McGinnis récompense la carrière exceptionnelle, la gestion professionnelle, l’esprit d’initiative et les contributions techniques dans le domaine de l’ingénierie des tests automatiques, ainsi que la participation active à la manifestation américaine Autotestcon, dédiée au test électronique.

Mike Dewey est impliqué dans le développement d’innovations technologiques en matière de test automatique et d’instrumentation depuis plus de 30 ans. Il a conduit des processus d’innovations dans les domaines de VXI et PXI pour le compte des entreprises majeures de l’industrie du test automatique (ATE pour Automatic test equipment), telles que GenRad, Teradyne et Marvin Test Solutions (anciennement Geotest). Il est l’une des rares personnes à avoir contribué à la création et au développement des deux standards d’instrumentation modulaire.

Mike Dewey est détenteur de plusieurs brevets et a rédigé de nombreux articles sur le thème du test automatiques pour des revues industrielles ou pour la base d’informations de l’entreprise. Plus récemment, il a mené l’effort du Comité de test automatique (ATC) de la Division de l’ingénierie des systèmes de l’association industrielle de Défense nationale (NDIA) pour le projet concernant les composants FPGA (Field-Programmable Gate Array).

Mike Frey est membre de la communauté ATE depuis près de quatre décennies. Il a débuté sa carrière de pilote au sein de l’US Air Force (FB-111A, KC-135 et OV-10A). Il est le premier commandant d’escadrille de bombardiers B-1B. Il a joué un rôle important dans l’introduction de B-1B au COI (Capacité opérationnelle initiale) en 1986. Après sa carrière de pilote au sein de l’US Air Force, il a superviser la maintenance du plus grand centre de test avionique à Plattsburgh AFB puis dirigé la logistique du Depot Activation OC-ALC pour le bombardier B -1B. Durant ses 28 ans de carrière dans le secteur du test automatique, il a notamment travaillé pour General Dynamics Electronics Division, BAE Systems, Lockheed Martin, EADS North America et Marvin Test Solutions.

Mike Frey est également membre actif du comité de test automatique NDIA et assurait la liaison avec l’US Air Force depuis plus de 18 ans.