Keysight Technologies organise une journée concernant notamment les problématiques du test et de la mesure dans le domaine de l’IoT (Internet Of Thing pour Internet des objets) et de l’analyse RF. La participation à cette journée est gratuite. Elle se tiendra jeudi 30 juin 2016 à la Cité de l’Objet Connecté à Angers.
- Jeudi 30 juin 2016, de 9h00 à 15h30
- Cité de l’Objet Connecté à Angers
Des présentations en français sur la consommation des objects connectés et l’analyse RF seront accompagnées de démonstrations qui se tiendront durant des ateliers techniques où vous pourrez échanger avec les experts de Keysight Technologies.
Présentations techniques :
Matinée : Améliorer la consommation des objets connectés
- Caractériser le besoin en puissance d’un objet connecté pour un dimensionnement correct des batteries
- Mesurer des micro-ampères et ampères en un seul tir
- Démonstration sur un objet connecté réel
Après-midi : De l’analyse de spectre traditionnelle à l’analyse temps réel
- Présentation de l’architecture des nouveaux analyseurs de signaux comparée à celle des précédentes générations
- Impact sur les performances et les fonctionnalités, que ce soit sur les précisions de mesure, sur les capacités d’analyse vectorielle ou sur les capacités d’analyse temps réel
- Critères de choix d’un analyseur de signaux et adéquation aux besoins
Renseignements : Tél. : 01 64 53 50 13
Inscription par e-mail : valerie_dupre@keysight.com
