Article Rohde&Schwarz sur IoT, LTE, 5G et Big Data

IoT Test Day proposé par Rohde & Schwarz

  • Rohde & Schwarz organise une journée d’informations autour des problématiques de mesures concernant les objets connectés (IoT pour Internet of Things).
  • Cette journée intitulée « IoT Test Day » s’intéressera aux technologies IoT, Bluetooth LE, WLAN, LoRa, Sigfox et 5G.
  • L’ IoT Test Day se tiendra le mardi 27 mars 2018 à l‘hôtel Mercure Paris Vélizy (78).
  • La participation à cette journée est gratuite et le déjeuner est offert.

# Programme de l’ »IoT Test Day » de Rohde & Schwarz : 

  • 8h30: Accueil café.
  • 09h00 – 10h00 : Tendances technologiques en route vers la 5G et l’IoT
    C-IoT (IoT/NB/eMTC), BT LE 5.0, WIFI 11. ax, LPWAN(*), 5G
  • 10h00 – 10h30 : Sigfox, un réseau mondial LPWA.
    Services et cas d’utilisations, notions de base de la technologie, principaux points à retenir
    Par Gilles Mahe, Technical Presales SO France chez Sigfox
  • 10h30 – 10h50 : Pause
  • 10h50 – 11h30 : LoRaWan, réseau LPWAN pour l’IoT.
    Par Eddy Montagner, Key Account Manager chez Semtech
  • 11h30 – 12h30 : Les défis des mesures liées à l’IoT.
    Coût, sécurité, Simplicité, Simplicité, Interférence, SIM.
  • 12h30 – 13h30 : Déjeuner offert
  • 13h30 – 14h00 : Optimisation de la consommation d’énergie.
  • 14h00 – 14h30 : Interférence et coexistence des signaux RF.
    Comment conserver l’efficacité spectrale?
  • 14h30 – 15h00: Pause
  • 15h00 – 17h00: Atelier de travail.

 

(*) LPWA : Low Power Wide Area pour basse consommation et longue portée.

 

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