Il est rare de croiser James Truchard, CEO de National Instruments, sur une manifestation française. Il était présent cette semaine à l’édition parisienne de l’European Microwave Week, signe que le domaine du test radiofréquence est devenu un marché stratégique pour son entreprise. Il nous rappelle qu’en instrumentation RF le matériel ne fait pas tout. Le logiciel fait toute la différence.
L’édition 2015 d’European Microwave Week a fait cette semaine étape à Paris. Les technologies micro-ondes et RF sont au coeur des débats de ce congrès européen au côté duquel se tient une exposition de composants, matériels et logiciels. L’instrumentation y a la part belle. Les constructeurs d’instruments de test RF n’ont pas manqué à l’appel. Ils exposent leurs solutions sur les plus grands stands à l’entrée du salon. Les spécialistes historiques, Anritsu, Keysight Technologies (ex Agilent) ou encore Rohde & Schwarz ont vu l’arrivée ces dernières années d’un nouvel acteur : National Instruments. Le constructeur texan, qui s’est lancé sur le marché du test radiofréquences en développant une offre basée sur une instrumentation modulaire au format PXI, présente aujourd’hui une gamme de solutions de test RF étoffée.
Preuve que le marché du test RF est un des axes de développement prioritaire pour NI, et que cette manifestation européenne est un important rendez-vous européen des spécialistes du domaine RF et micro-ondes, James Truchard, co-fondateur et CEO de National Instruments , a fait le déplacement d’Austin. Croisé au hasard, alors qu’il arpentait les allées du salon, on constate que s’il a abandonné sa moustache, il conserve sa curiosité de chercheur et s’intéresse toujours de très près aux évolutions technologiques et à la stratégie R&D de l’entreprise qu’il a fondé en 1976.
James Truchard confie que son objectif n’est pas tant de découvrir sur le salon ce que propose ses concurrents mais surtout d’identifier quels sont les marchés ou les applications que leurs solutions n’adressent pas pour s’y intéresser. « L’idée n’est pas de copier ce qui se fait déjà mais d’avoir une vision à long terme pour développer des solutions de test et mesure qui seront essentielles au développement des équipements RF de prochaine génération ».
Lorsqu’on lui glisse que le lancement par Keysight Technologies de plusieurs instruments de test RF au format PXI, démontre que National Instruments, qui a été précurseur en la matière, a eu raison de croire que l’instrumentation modulaire aurait un jour une place de choix dans le monde du test RF, son regard s’illumine, il esquisse un sourire, et glisse : « l’essentiel n’est pas de concevoir des modules et de proposer des solutions au format PXI. Il faut aussi disposer de l’offre logicielle pour déployer ces instruments de façon efficace depuis le prototypage des équipements RF jusqu’à leur ultime phase de production. Nous disposons d’une longue expérience dans le développement logiciel pour les applications de test & mesure, et d’une large gamme d’outils pour la mise en oeuvre d’applications de test jusqu’à la personnalisation des instruments via la programmation de FPGA ». Finalement, NI ne déroge pas à la règle, dont il avait fait son slogan : « the software is the instrument ».
