• La 6ème édition du salon Microwave & RF, qui se tiendra les 22 et 23 mars au parc des expositions de la Porte de Versailles à Paris, proposera neuf sessions de conférences.
• Quatre d’entre elles seront dédiées à la CEM (Compatibilité Electromagnétique)

– Mercredi 22 mars 2017 – 

• Matin : La CEM de terrain
  Plus d’un quart de siècle après la première directive CEM, les problèmes de câblage et d’installation sur le terrain restent nombreux avec des conséquences coûteuses. Un système de protection contre les effets de la foudre est rarement optimal, quand il n’est pas illusoire. Retour d’expériences.
  Intervenant : Gilles Delcourt – APEI.
• Après-midi :  Objets sans fil interconnectés
  L’internet des objets se développe. Toutefois, les aspects techniques, réglementaires et normatifs restent des obstacles sérieux avant toute mise sur le marché d’un émetteur radio. Cette session fait un point sur ces aspects critiques qui restent mal évalués en début de projet.
  Intervenant : Pascal Champaney – Always Wireless.

– Jeudi 23 mars 2017 –

•  Matin : La connectivité en CEM
  La connectivité – câbles et connecteurs – restent un souci récurrent pour la CEM de tout équipement électronique. Paradoxe : le marquage CE des câbles et connecteurs, considérés comme de simples composants, reste interdit. Un point sur la symétrie, l’atténuation de blindage et l’intégrité de signal des interconnexions.
  Intervenant : Alain Charoy – AEMC.
• Après-midi : Nouvelles méthodes de mesures ou tests en CEM
  Les moyens à disposition des ingénieurs pour maîtriser la CEM se multiplient : analyseur temporel à balayage rapide en fréquence, chambre réverbérante à brassage de mode (CRBM), chambre totalement anéchoïque (FAR), etc. Ces moyens, éventuellement utilisés de façon non canonique, permettent des analyses rapides et reproductibles.
  Intervenant : Michel Mardiguian – Expert CEM.