Analyseur de qualité du signal MP1800A d'Anristu

Anritsu lance une solution de test du taux d’erreur pour les réseaux optiques Ethernet 100G

Anritsu lance la gamme MP1800A d’analyseurs de la qualité du signal pour le test de réseaux optiques passifs Ethernet (EPON) de 100 Go. La nouvelle application logicielle MX180014A, récemment développée pour les réseaux optiques passifs Ethernet 100 Go, et l’analyseur de la qualité du signal MP1800A supportent les mesures du taux d’erreur BER (Bit Error Rate) des terminaux de lignes optiques (OLT) et des unités de réseau optique (ONU) en respectant les tout derniers standards des réseaux Ethernet EPON 100 Go.

Le développement des services à large bande permettant la transmission vidéo 4K/8K ne constitue que l’un des moteurs du développement des réseaux de transport optique utilisant des réseaux optiques passifs (PON, Passive Optical Network).

En effet, l’augmentation rapide du trafic de données pousse ces réseaux de transport optique à utiliser la technologie PON 10 Gbit/s à haut débit, tout en nécessitant simultanément l’adoption du standard Ethernet EPON 100 G nouvelle génération (IEEE802.3ca), offrant des débits des données de 25 Gbit/s par signal.

Résultat : Le développement des terminaux OLT et des unités ONU pour systèmes PON requiert des performances large bande 25 Gbit/s ainsi que des mesures de timing et des marges plus précis, en raison du temps par bit plus réduit.

Le MP1800A est un testeur de taux d’erreur BERT modulaire, conçu pour mesurer une variété d’interfaces, y compris les interfaces multicanal 64 Gbit/s. Les fonctions de synchronisation et de réglages des délais du signal sur le MP1800A sont adaptées aux tests de terminaux OLT requérant un paramétrage précis du timing.

Le logiciel MX180014A contrôle le MP1800A pour générer des modèles de séquences de signaux de test à deux canaux. Les tests de sensibilité en entrée et de timing pour l’évaluation des terminaux OLT sont mises en œuvre via une interface graphique, qui permet de paramétrer la longueur et le timing du modèle de signal de test.