NI semi-conducteur test STS system

National Instruments propose l’édition 2016 de son étude sur le test automatique

National Instruments, annonce la disponibilité en français de son rapport d’étude 2016 sur le test automatique. Ce rapport annuel dédié au test et à la mesure présente cinq tendances qui, selon le constructeur américain, compte tenu de la prolifération des appareils connectés, sont susceptibles d’impacter le secteur du test automatique. 


Le rapport d’étude 2016 de National Instruments sur le test automatique s’intéresse à cinq thématiques :

·         Traitement : Collecter des données de test en production
L’industrie du semi-conducteur se lance dans l’analytique temps réel pour réduire les coûts de test en production.

·         Logiciels : La gestion du cycle de vie, une question de logiciel
L’obsolescence, l’attrition des utilisateurs de systèmes d’exploitation et les critères de compatibilité entravent les projets avec un cycle de vie étendu… Un problème bien connu qu’il serait bon de réexaminer.

·         Architecture : L’essor du logiciel de gestion de test
Les séquenceurs de test du commerce sont des solutions efficaces pour prendre en compte la déferlante actuelle de nouveaux langages de programmation.

·         Entrées/Sorties : Standardiser les plates-formes de la caractérisation à la production
Les fabricants de circuits imprimés RF pratiquent la réutilisation d’IP et l’uniformisation de leurs équipements sur l’ensemble du cycle de conception de leurs produits pour en réduire les coûts et les délais de mise sur le marché.

·         Stratégie d’entreprise : Les ondes millimétriques se propagent aux stratégies de test
Actuellement, les responsables de test adoptent des solutions modulaires pour valider à moindre coût des composants hautes fréquences.

 

Télécharger l’étude sur le site Internet de National Instruments